什么是X射线荧光镀层测厚仪?

2020-04-02 13:23:32 admin 169

X射线荧光(XRF)镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款高端仪器,优尼康科技有限公司提供的一款Bowman BA-100 Optics为例,来简单了解下,什么是台式X射线荧光镀层测厚仪。

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Bowman BA-100 Optics 机型采用业界先进的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应最严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。

优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的最佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管

         ● 微聚焦50瓦Mo靶射线管(其它靶材可选); 小于100um的测量斑点

         ● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央

         ● 长寿命的射线管灯丝

         ● 独有的预热和ISO温度适应程序

 

多毛细管聚焦光学结构

         ● 显著提高X射线信号强度

         ● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

         ● 小于100um直径的测量斑点

         ● 经过验证,接近完美的测量精度






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