F60-t 光学膜厚测量仪

依靠 F60光学膜厚测量仪 先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。在约 45 秒的时间就可以扫描完标准 49 点分布图

新旧程度 : 全新
产品名称 : 膜厚测量仪
产地 : 美国
品牌 : Filmetrics
产品型号 : F60-t

自动化薄膜厚度绘图系统

依靠F60先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。在约45秒的时间就可以扫描完标准49点分布图。

为特定的测量要求设计许多特定功能,例如:自动寻找notch点、自动基准校正、封闭独立的测试平台和 已安装好软件的工业化电脑等。



可测样品膜层

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

例如:


氧化硅

氮化硅

类金刚石DLC

光刻胶

聚合物

聚亚酰胺

多晶硅

非晶硅


相关应用

液晶显示器

盒厚/聚酰亚胺/ITO

生物医学

聚对二甲苯/生物膜/硝化纤维

半导体制造

光刻胶/氧化物/氮化物

光学镀膜

硬涂层/抗反射涂层/滤光片


免费现场演示/支持

点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易!


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