CDE DualMap 薄膜厚度测量仪

精度高,稳定性好,薄膜厚度与电阻率测试合二为一,可靠的ResMap平台,自动绘图测试功能,多种送片模式可选,支持包适45mm

新旧程度 : 全新
产品名称 : 薄膜厚度测量仪
产地 : 美国
品牌 : CDE
产品型号 : DualMap 178, DualMap 273

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