F20 桌面式通用薄膜厚度测量仪

测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统如果您正在寻找一款仪器,需要测量厚度、测量光学常数或者仅需要测量材料的反射率和穿透率,F20您值得拥有。仅仅几分钟内就可以安装好,通过USB与电脑连接,测量数据结果不到一分钟就能得到。由于其模块化的特点,F20适用于各种各样的应用: • 测量厚度、折射率、反射率和穿透率:单层膜或多层膜叠加独立膜层液态膜或空气层 • 不同条件下的测量,

产品型号 : F20
品牌 : Filmetrics
产地 : 美国
产品名称 : 光学膜厚测量仪
新旧程度 : 全新

测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统

如果您正在寻找一款仪器,需要测量厚度、测量光学常数或者仅需要测量材料的反射率和穿透率,F20您值得拥有。仅仅几分钟内就可以安装好,通过USB与电脑连接,测量数据结果不到一分钟就能得到。由于其模块化的特点,F20适用于各种各样的应用:

 

• 测量厚度、折射率、反射率和穿透率:

单层膜或多层膜叠加

独立膜层

液态膜或空气层

 

• 不同条件下的测量,包括:

在平面或弯曲表面

选配最小尺寸可达20微米的光斑

桌面式、XY轴绘图式或在线式测量


所有的这些功能都附带在一个独立的软件安装包中,并且有我们的24小时/工作日内电话机网络支持,这就是Filmetrics的优势,让我们试一试! 

可测样品膜层

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。 这包括几乎所有的电介质与半导体材料,例如:

SiNx

TiO2

DLC

SU-8

Polymers

AIQ

Amorphous Silicon

ITO

CIGS


应用

半导体膜层

光刻胶/加工膜层/介电层

液晶显示器

OLED/玻璃厚度/ITO和TCOs

光学镀层             

硬涂层/抗反射层           

生物医学

聚对二甲苯/医疗器械

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图片关键词

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F20-UV
F20-UVX
F20
F20-EXR
F20-NIR
F20-XT
F3-sX 系列





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