F3 光学膜厚测量仪

经济适用的反射式测试系统F3系统通过采集膜层的反射光谱曲线,进而分析薄膜厚度及光学常数,可选配F3型号的不同系列,来满足不同的厚度和光学常数测试需求。其通用型号配置40,000小时适用寿命的光源及自动波长校准,大大增强了系统的稳定性。F3型号有四种波长范围的系列,可以覆盖光谱波长范围从190纳米至1700纳米。 快速厚度测试升级厚度测试软件升级许可后,厚度值将在测试数据结果中直观的显示。

产品型号 : F3,F3-UV,F3-NIR,F3-XT
品牌 : Filmetrics
产地 : 美国
产品名称 : 膜厚测量仪
新旧程度 : 全新

经济适用的反射式测试系统

F3系统通过采集膜层的反射光谱曲线,进而分析薄膜厚度及光学常数,可选配F3型号的不同系列,来满足不同的厚度和光学常数测试需求。其通用型号配置40,000小时适用寿命的光源及自动波长校准,大大增强了系统的稳定性。F3型号有四种波长范围的系列,可以覆盖光谱波长范围从190纳米至1700纳米。

 

快速厚度测试

升级厚度测试软件升级许可后,厚度值将在测试数据结果中直观的显示。同时软件中也存入了许多常用的介质材料及半导体层的材料信息。

 

光学常数测试功能(n 和 k)

对于更高测试要求用户, 只需要升级光学常数软件升级包即可在短时间内测试材料的折射率和消光系数


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