薄膜厚度测量仪

膜厚测量仪、光学轮廓仪、主动式减震台、膜厚测量仪厂家

高性能X射线荧光分析仪

产品描述:美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。 Bowman BA-100 Optics 机型采用业界最先进的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。 Bowman BA-100 Optics 机型配

新旧程度 : 全新
产品名称 : 高性能X射线荧光分析仪
产地 : 美国
品牌 : 美国博曼
产品型号 : 101-G,100-B,100-P,100-O

产品描述:

美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

 

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界最先进的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

 

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应最严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。

 

优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的最佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

 

稳定的X射线管

         ● 微聚焦50瓦Mo靶射线管(其它靶材可选); 小于100um的测量斑点

         ● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央

         ● 长寿命的射线管灯丝

         ● 独有的预热和ISO温度适应程序

 

多毛细管聚焦光学结构

         ● 显著提高X射线信号强度

         ● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

         ● 小于100um直径的测量斑点

         ● 经过验证,接近完美的测量精度

 

应用领域:

 

常见的镀层应用:

 

         PCB行业

         Au/Pd/Ni/Cu/PCB

 

引线框架

         Ag/Cu

         Au/Pd/Ni/CuFe

 

半导体行业

         Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材

         Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

 

线材

         Sn/Cu

 

珠宝、贵金属

         10,14,18Kt

 

元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等

 


优尼康科技有限公司-膜厚测量仪厂家

400-186-8882