F37 薄膜厚度测量仪

多点测量系统,单一机台最多可搭配七组光谱仪高性价比的F37机型因配置了先进的光谱测量系统,能够迅速快捷的应用于工业生产中在线测量膜层的厚度,及光学常数(n、k值),通过对待测膜层上下表面的反射光谱的分析就能够在数秒内获得厚度、折射率及消光系数。F37先进的光谱测量系统,采用标准19英寸的机架式工业机箱,最多能配置7个独立的光谱仪。F37测量软件也可被主机通过数字化I/O软件控制来进行测量。测量数据

新旧程度 : 全新
产品名称 : 薄膜厚度测量仪
产地 : 美国
品牌 : Filmetrics
产品型号 : F37

多点测量系统,单一机台最多可搭配七组光谱仪

高性价比的F37机型因配置了先进的光谱测量系统,能够迅速快捷的应用于工业生产中在线测量膜层的厚度,及光学常数(nk值),通过对待测膜层上下表面的反射光谱的分析就能够在数秒内获得厚度、折射率及消光系数。

F37先进的光谱测量系统,采用标准19英寸的机架式工业机箱,最多能配置7个独立的光谱仪。F37测量软件也可被主机通过数字化I/O软件控制来进行测量。测量数据能够自动输出到主机供SPC控制。此外,为了满足不同测量环境需求,Filmetrics也可以提供多样化的透镜配件及光学探头夹具供用户选择使用。

附带的软件和USB连接界面使F37易于安装到任何Windows平台的PC,功能强大的软件预配了超过百种材料的光学参数,这有助于多种不同膜层结构的测量,不论是单层、多层堆叠,甚至是单一纯物质,用户能轻易地从资料库中找到适用的模型以进行测量分析。如果是没有预配的材料,用户只要将所知的材料光学参数直接导入资料库,或者经由测量,把所得的光学数据储存,即可使用。

F37-3.jpg


优尼康科技有限公司

400-186-8882