LCD液晶显示测量解决方案

液晶显示技术的发展概况及现状 液晶是于1888 年由奥地利植物学家莱尼茨尔(F.Reinitzer)所发现,对它进行的研究在20 世纪30 年代曾盛行一时。后因没有得到应用而失去了人们的注意力。液晶应用的研究开始于60 年代,美国无线电公司(RCA)海麦尔(G.H.Heilmeier)发现向列相液晶的透明薄层通电时会出现混浊现象(即电光效应)及利用液晶光学的特异性质测定温度和压力,并

液晶显示技术的发展概况及现状

        液晶是于1888 年由奥地利植物学家莱尼茨尔(F.Reinitzer)所发现,对它进行的研究在20 世纪30 年代曾盛行一时。后因没有得到应用而失去了人们的注意力。液晶应用的研究开始于60 年代,美国无线电公司(RCA)海麦尔(G.H.Heilmeier)发现向列相液晶的透明薄层通电时会出现混浊现象(即电光效应)及利用液晶光学的特异性质测定温度和压力,并相继应用于显示器件上。美国科学家G..H.Heilmeir 发现的动态散射模式(DSM)有力地推动了液晶显示(LCD)的发展。从此许多研究人员致力于寻找新型液晶显示模式并努力改善其性能。到70 年代,宾主(GH)模式、相变(PC)模式、电控双折射(ECB)模式相继出现。以此为转机对液晶的研究再次活跃起来。LCD(liquid crystal display)已于1980 年前后达到实质的实用化阶段。最近,作为数字、文字、图形、电视画面显示等应用已渗透到生产和消费的大多数领域。

什么是液晶显示器?

        液晶显示器是一个由上下两片导电玻璃制成的液晶盒,液晶盒的制作过程有着严格的技术要求,制盒技术是制造液晶显示器关键的技术之一。液晶盒是由两片相距几微米的玻璃基板组成,在这些玻璃基板的内表面上有一层氧化铟锡(ITO)或氧化铟(In2O3)透明电极,在两块基板之间填充液晶材料,通过对电极表面进行适当处理,使液晶分子的取向成一定状态。

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液晶盒的制造

        液晶盒的制造是在洁净室环境下进行的,在工艺上可以大体分成清洗与干燥、光刻、取向排列、制盒、切割、灌注液晶、目测、电测、贴片、上引线、包装等工序。其中从清洗到灌注液晶这一段生产线又称作前工序,从目测到包装这一段生产线又称作后工序。在整个工艺中,决定器件性能及质量的最重要的环节是液晶分子取向层的形成。

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为什么要测量液晶盒?


        在液晶显示屏的制造过程中,液晶盒的厚度和尺寸一般都要进行严格选择,以便使液晶层的厚度达到设计要求,保证液晶显示器所要求的特定显示模式的实现,具体来说,液晶盒厚度对液晶显示器性能的影响主要体现在以下两个方面:


第一,为了获得高对比度、高亮度、高响应速度的显示效果,液晶显示器盒厚的精度必须控制在0.1μm以下,特别是彩色超扭曲向列相液晶显示器( CSTN- LCD),对盒厚的精度要求更高,一般必须控制在±0.05μm以下。


第二,液晶显示器盒厚的均匀性对于其显示均匀性也有着至关重要的作用。如果盒厚不均匀,便会引起液晶显示器底色变化,造成颜色废品,特别是在彩色超扭曲向列相液晶显示器制造过程中,对液晶盒厚的均匀性要求更高,该技术的关键之一就是精确控制液晶盒的厚度。


液晶面板行业国内制造商用户群

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行业测量方案

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测量原理

        不同波长的光波在穿透被测膜层时会产生不同的相位差,由被测膜层的厚度与 n&k 值决定各个波长的光所产生的相位差,相位差为波长整数倍时,产生建设性叠加,此时反射率最大;相位差为半波长时,出现破坏性叠加,反射率最低;整数倍与半波长之间的叠加,反射率介于最大与最小反射之间,这样就形成了干涉图形。

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实际测量数据

空盒测量-Air Cell Gap

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实盒测量-Cell Gap

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ITO薄膜测量

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PI层厚度测量

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设备安装现场案例

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