新兴行业应用 | 玻璃基板·玻璃硬盘·TGV膜厚测量

光通讯

优尼康科技提供光通讯器件全流程膜厚测量方案：Filmetrics F20/F50/F54膜厚仪、F3-sX厚膜测厚仪、F32在线膜厚监控系统等。覆盖平面波导(PLC)晶圆膜厚、DWDM窄带滤光片膜层厚度、铌酸锂薄膜厚度与光学常数(n/k)、光通讯芯片SiOx/SiNx介质膜等关键参数测量，助力光通讯器件研发与量产良率提升。