优尼康科技提供陶瓷结构件测量方案：光学轮廓与共聚焦测平面度和粗糙度、XRF 与椭偏测表面处理层厚度、拉曼判晶相、纳米压痕测硬度。免费样品测试 400-186-8882
优尼康科技提供 SAW/BAW 滤波器测量方案：椭偏与反射光谱测压电薄膜厚度与折射率、共聚焦测叉指电极线宽与周期、XRF 测电极成分。免费样品测试 400-186-8882
优尼康科技提供 MLCC 陶瓷电容测量方案：XRF 无损测端电极铜镍锡镀层厚度与元素比例、断面共聚焦测内电极与介质层、光学轮廓测外形与崩缺。免费样品测试 400-186-8882
优尼康科技提供电感与磁性元件测量方案：共聚焦与光学轮廓测线径、绕线间距与磁芯尺寸、反射光谱与椭偏测绝缘层、XRF 测端电极镀层。免费样品测试 400-186-8882
优尼康科技提供 UTG 与柔性盖板测量方案：共聚焦与白光干涉测超薄玻璃厚度、面型与边缘质量，反射光谱与椭偏测 CPI 膜厚与光学常数。免费测样 400-186-8882
优尼康科技提供 VC 均热板测量方案：触针式轮廓测板厚与封口台阶、白光干涉与共聚焦测平面度与毛细结构形貌、XRF 测表面镀层厚度。免费样品测试 400-186-8882
优尼康科技提供石墨烯散热膜测量方案：近红外厚膜反射与白光干涉测膜厚和面内分布、拉曼判层数与缺陷、XRF 与椭偏测复合结构各层厚度。免费样品测试 400-186-8882
优尼康科技提供传感器表面处理测量方案：椭偏与反射光谱测保护层与钝化层厚度、XRF 测电极镀层与元素比例、接触角测表面能与防污效果。免费测样 400-186-8882
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