锂电池

2026-06-02 11:39:57 优尼康
锂电池测量方案 | 电极涂布厚度·极片形貌·隔膜孔隙 | 优尼康科技
锂电池全流程测量方案

电极涂布 · 极片形貌 · 隔膜孔隙 · 极片电阻

膜厚仪 · 光学轮廓仪 · 纳米压痕仪 · 台阶仪 · 电阻率仪

针对锂电池正负极涂布、辊压、分切、隔膜等工艺,提供涂布厚度与均匀性、极片表面粗糙度、隔膜孔隙结构、极片硬度/模量、极片电阻率及极耳焊接台阶的无损、快速测量方案。

涂布厚度/均匀性 F20/F50膜厚仪秒级测量正负极涂层厚度,支持全幅面Mapping
极片/隔膜表面形貌 Profilm3D光学轮廓仪非接触分析粗糙度、孔隙、裂纹
极片硬度/模量 纳米压痕仪评估活性材料涂层与集流体的力学性能
极片电阻率 R50/R54电阻率仪快速测量极片方块电阻,评估导电网络

锂电池制造中的测量痛点与需求

涂布均匀性、极片裂纹、隔膜孔隙、极片电阻 — 直接影响电池容量、内阻与安全

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涂布厚度均匀性控制

正负极涂层厚度偏差会导致容量不一致、析锂风险。传统β射线或X射线测厚仪成本高、有辐射,且无法获得面内精细分布。

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极片表面裂纹与团聚检测

辊压后涂层表面裂纹、活性材料团聚会导致局部阻抗增大,加速电池衰减。光学显微镜仅能看平面,无法量化深度和体积。

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隔膜孔径与孔隙率评价

隔膜微孔尺寸、分布和孔隙率直接影响离子电导率和安全性。扫描电镜成本高、制样复杂,无法快速批量检测。

极片硬度与涂层结合力

涂层硬度不足易掉粉,硬度过高则柔韧性差;涂层与集流体结合力弱导致充放电循环后脱落。传统铅笔硬度法主观性强。

H

极片电阻率与导电网络

极片电阻率过高会增加内阻,影响倍率性能。四探针法测试时探头压力可能损伤涂层,需要精准控压。

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极耳焊接台阶与毛刺

极耳焊接后的残余台阶高度和毛刺可能刺穿隔膜,造成短路。传统卡尺无法测量微米级台阶和边缘轮廓。

优尼康科技锂电池测量方案 集成膜厚仪、光学轮廓仪、纳米压痕仪、电阻率仪等设备,覆盖从浆料涂布、辊压、分切到极耳焊接的全过程,帮助电池制造商提升一致性、降低内阻、保障安全。

核心产品矩阵 — 锂电池专用测量设备

针对涂布、极片、隔膜、极耳的快速无损解决方案

膜厚仪系列

光谱反射 F20 / F50 / F54-XY
毫秒级测量正负极涂层厚度(可测石墨、LFP、NCM等),支持卷材在线或离线Mapping,评估涂布均匀性。

膜厚仪选型 →

光学轮廓仪 Profilm3D

非接触3D形貌 白光干涉/共聚焦双模式,垂直分辨率0.1nm。用于极片表面粗糙度(Ra/Rz)、裂纹深度/宽度、隔膜孔隙率、极耳毛刺高度、辊压波纹度分析。

了解Profilm3D →

纳米压痕仪

微纳力学 G200X / iMicro
测量涂层硬度、弹性模量、涂层与集流体结合强度,以及隔膜的穿刺模量。超低载荷适用于多孔涂层,避免基底效应。

纳米压痕方案 →

电阻率仪

四探针法 R50/R54
测量极片(涂层/集流体)方块电阻及体积电阻率,评估导电剂分散效果和涂层均匀性。压力可调,避免损伤涂层。

电阻率仪详情 →

台阶仪

低接触力探针,用于极耳焊接台阶高度测量、涂层厚度基准校准、隔膜厚度验证。

台阶仪详情 →

以上设备支持卷对卷、单片电池极片、隔膜等多种样品形式,可定制自动化测量方案。锂电池涂布厚度测量、极片表面粗糙度检测、隔膜孔隙率分析、极片纳米压痕硬度、极片电阻率测试、极耳焊接台阶高度、NCM电极涂层均匀性

锂电池测量技术原理对比

测量技术代表设备原理锂电池核心应用核心优势
光谱反射膜厚仪F20/F50/F54反射光谱干涉拟合涂层厚度,适用于石墨、氧化物等不透明/半透明材料正负极涂层厚度、涂布首尾/边缘厚度差、面密度相关毫秒级 无损 大面积Mapping
白光干涉轮廓仪Profilm3D低相干光干涉获得三维形貌,可测多孔、低反射表面极片裂纹/针孔定量、隔膜孔径/孔隙率、辊压波纹度、极耳毛刺亚纳米垂直分辨率 无接触 大视野拼接
纳米压痕G200X/iMicro连续载荷-位移曲线,计算硬度/模量涂层硬度/弹性模量、涂层-集流体结合强度、隔膜穿刺模量微区定位 超低载荷 避免基底干扰
四探针电阻率R50/R54恒流源+四点探针测量方块电阻,自动压力补偿极片电阻率(评估导电网络)、涂层均匀性、老化对比快速 可调压力 非破坏
低力台阶仪台阶仪系列超低接触力探针扫描轮廓极耳焊接台阶高度、涂层厚度校准、隔膜厚度直接可溯源 大范围量程

锂电池制造与检测应用实例

正极涂布工艺

NCM电极涂层厚度与均匀性Mapping

需求:涂布厚度80±2μm,首尾厚度偏差<1.5%
方案:F50膜厚仪 全幅面扫描,生成厚度分布云图
结果:厚度偏差±1.3μm,首尾偏差0.9%,容量一致性提升6%
负极辊压后裂纹检测

石墨涂层表面微裂纹三维定量

需求:检出宽度>2μm、深度>1μm的裂纹,裂纹密度<0.5/cm²
方案:Profilm3D 自动识别裂纹,输出长度、宽度、深度及面积占比
结果:检出率98%,裂纹密度0.3/cm²,优化辊压压力后缺陷消除
隔膜孔隙率评估

PP/PE隔膜孔径分布与孔隙率

需求:平均孔径0.05~0.2μm,孔隙率40±3%
方案:Profilm3D 共聚焦高倍成像,自动统计孔径分布及开孔面积比
结果:平均孔径0.12μm,孔隙率41.5%,离子电导率达标
极片电阻率

磷酸铁锂极片导电网络评价

需求:极片电阻率<50Ω·cm,批次间Cpk>1.33
方案:R50电阻率仪 多点测试,自动计算平均值与标准差
结果:电阻率平均48Ω·cm,Cpk=1.45,导电剂分散均匀性改善

常见问题

膜厚仪能否测量负极石墨涂层的厚度?
可以。F20/F50膜厚仪采用光谱反射技术,对于石墨等吸光性材料,通过选择合适的反射模型和算法,依然能够获得可靠的涂层厚度。实际测试中,建议使用未涂覆的铜箔作为基底参考,厚度测量范围5~200μm,与金相法对比偏差<±1μm。
如何检测极片涂层表面的微裂纹?
使用Profilm3D光学轮廓仪的白光干涉模式,一次扫描可获取涂层表面三维形貌。软件提供裂纹分析模块:可自动识别并测量裂纹的长度、宽度、深度及密度。相比SEM,无需制样、快速、成本低,且能获得深度数据。
纳米压痕仪如何测量涂层与集流体的结合强度?
G200X 配备划痕测试模块,通过恒定或线性增加的法向载荷,在涂层表面划出一条渐变划痕,同时监测声发射和摩擦力信号。临界载荷(Lc1、Lc2)对应涂层开始剥落或完全剥离的点,可定量评价结合强度。测试适合多孔涂层,无需特殊制样。
隔膜的孔径和孔隙率能否用光学轮廓仪测量?
可以。对于孔径>0.2μm的隔膜,Profilm3D 的共聚焦模式可直接成像并统计孔径分布,通过二值化算法计算开孔面积与总面积比值得到孔隙率。对于亚微米以下孔径,建议配合扫描电镜或压汞法,但光学轮廓仪仍可用于快速工艺一致性对比。
能否提供锂电池极片/隔膜的免费测试?
支持。您可以将未辊压/已辊压的极片、隔膜样品寄送至优尼康实验室,我们将使用膜厚仪、光学轮廓仪、纳米压痕仪和电阻率仪出具完整的测量报告,并帮助分析涂布均匀性、裂纹风险、导电性能等问题。

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