膜厚测量解决方案 | 半导体·OLED·光学镀膜·生物医疗

薄膜铌酸锂（TFLN）膜厚测量：从晶圆键合到器件性能的精度保障

薄膜铌酸锂（TFLN）是1.6T/3.2T光模块中电光调制器的核心材料，膜厚均匀性直接影响调制器带宽与良率。本文解析TFLN晶圆键合与抛光工艺中的膜厚控制挑战，以及优尼康科技代理的Filmetrics光学膜厚仪（F20/F50/F54-XYT-300）无损测量方案，重复精度0.02nm，支持全晶圆Mapping，助力高效薄膜铌酸锂测厚。

2026-07-21 优尼康

查看详情

硅片自然氧化层如何精准监控？椭偏仪、AFM、水滴角协同解析

自然氧化层仅 1~2nm 却决定半导体良率。本文用椭偏仪（厚度与光学常数）、AFM（表面形貌与界面粗糙）、水滴角（亲水性与表面能）三种互补手段协同表征自然氧化层，覆盖硅片来料、等离子体活化键合、再生晶圆等场景。优尼康科技提供 FS-RT300、Nanosurf AFM、KRUSS 水滴角全系测量方案，免费寄样测试

2026-07-20 优尼康

查看详情

光模块芯片膜厚测量方案：从衬底减薄到端面镀膜全覆盖

光模块芯片从衬底减薄、外延、光刻到端面镀膜，每道工序的膜厚测量方案全解析。覆盖 InP 衬底 TTV、SiO2/光刻胶厚度、AR/HR 反射率、金属膜厚度，Filmetrics F20/F50 膜厚仪一站式选型。免费寄样测试。

2026-07-20 优尼康

查看详情

硅透镜压印胶残留测量：从工艺监控到清洗效果量化的精度升级

硅透镜纳米压印工艺中压印胶残留直接影响光学性能与透光率。本文解析残胶厚度测量挑战、清洗效果量化需求，以及优尼康科技代理的Filmetrics光学膜厚仪无损测量方案。亚纳米级精度，1秒快速检测，支持全晶圆Mapping，精确量化清洗效果。

2026-07-20 优尼康

查看详情

硅透镜曲率半径测量：从模压工艺控制到非接触式3D面型检测的精度升级

硅透镜曲率半径与面型精度（PV/RMS）直接影响光模块耦合效率。本文解析硅透镜模压工艺中的曲率半径测量挑战、传统方法的局限，以及优尼康科技代理的Zeta-20白光共聚焦轮廓仪非接触式3D测量方案。亚纳米级Z轴分辨率，支持晶圆级透镜阵列批量测量，精准获取曲率半径与面型数据。

2026-07-20 优尼康

查看详情

FS-RT300激光椭偏仪在自然氧化层厚度分析中的应用

优尼康科技提供的 FilmSense FS-RT300 激光椭偏仪，实现自然氧化层厚度亚埃级重复性测量（精度 0.00017nm）。覆盖硅片来料检测、再生晶圆、等离子体活化键合等半导体工艺场景，300mm 晶圆 49 点测量仅需 2.5 分钟。优尼康科技提供设备与工艺一体化支持，即刻了解。

2026-07-17 优尼康

查看详情

心脏支架药物涂层测厚解决方案优尼康科技有限公司目录01心脏支架背景介绍02心脏支架涂层材料03药物涂层支架特性04心脏支架客户及市场情况05心脏支架涂层厚度测量解决方案心脏支架背景介绍Background of Heart StentsØ 据人类每年疾病死亡率统计表明，全球每年约有1700万人死于心血管疾病，占全球死亡人数的三分之一，冠心病为第一杀手。冠心病，又称缺血性心脏病，是由于冠状动脉粥样硬

2025-09-02 admin

查看详情

LCD液晶显示测量解决方案

LCD液晶显示屏测量与应用优尼康科技有限公司目录01液晶显示技术的发展概况及现状02什么是液晶显示器？03液晶盒的制造04为什么要测量液晶盒？05液晶面板行业国内制造商用户群06行业测量与解决方案01液晶显示技术的发展概况及现状液晶是于1888 年由奥地利植物学家莱尼茨尔(F.Reinitzer)所发现，对它进行的研究在20 世纪30 年代曾盛行一时。后因没有得到应用而失去了人们的注意力。液晶应用

2025-09-02 admin

查看详情