Bowman B系列XRF金属镀层测厚仪手册

简要说明 :
Bowman B系列是专为微米级部件及复杂镀层结构设计的高性能XRF金属镀层测厚仪。本页面提供B系列全套产品技术手册下载,涵盖设备参数、操作流程、校准方法及典型应用场景,帮助您充分发挥微焦点检测的精度优势。
文件版本 :
V1.0.1
文件类型 :
PDF
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一、B系列产品概述

Bowman B系列采用微焦点X射线管高分辨率半导体探测器,最小测量光斑可达数微米,特别适用于:

  • 电子连接器、引脚、PCB焊盘镀层

  • 极小紧固件、弹簧、螺丝

  • 多层镀层(如Ni/Cu/Au、Ni/Pd/Au等)

  • 首饰、钟表微小零件

二、可下载手册列表

手册名称内容说明格式
Bowman B系列 产品手册详细参数、测量范围、精度数据PDF

三、B系列核心优势(便于用户下载前决策)

  • ✅ 微焦点设计,对极微小测量点依然精准

  • ✅ 无损、快速,单点检测仅需数秒

  • ✅ 标配多种准直器,灵活切换测量区域

  • ✅ 软件自动拟合多层镀层,无需人工建模

  • ✅ 符合ASTM B568、ISO 3497等国际标准

四、适用行业

半导体封装 / 精密电子 / 汽车连接器 / 医疗器械 / 珠宝检测 / 高校科研



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