Filmetrics F20 是一款高性价比的便携式光学膜厚仪，由优尼康科技代理供应。仪器采用光谱反射法，通过测量薄膜反射光谱反演膜厚与光学常数，非接触、不伤样品，单次测量不到 1 秒。桌上型紧凑设计，内置 500 多种材料数据库，覆盖紫外到近红外波段，适用于半导体、光学镀膜、平面显示与材料研发等场景的快速薄膜厚度测量。
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 波长范围 | 380-1050nm（型号可选） |
| 光源 | 钨卤素灯、氘灯 |
| 厚度测量范围 | 15nm~70μm（视配置） |
| 测量精度 | 0.02nm |
| 准确度 | 1nm 或 0.2% 取大值 |
| 光斑大小 | 1.5mm（可选小至 20μm） |
| 样品台尺寸 | 1mm~300mm |
| 内置材料库 | 500+ 种 |
F20 基于光谱反射法，将宽谱光垂直照射到薄膜样品表面，分析不同波长反射光的干涉光谱，经模型拟合反演膜厚与折射率。非接触测量不伤样品，配合 F20-UV / EXR / NIR / XT / UVX 等型号可覆盖 1nm 到 450μm 的厚度范围。软件内置 500 多种材料库，支持一键测量与数据导出。
半导体：氧化硅 / 氮化硅工艺膜层厚度测量
光学镀膜：增透膜、分光膜厚度测量
平面显示：OLED 功能层、ITO 导电层厚度测量
材料研发：聚合物、光刻胶薄膜厚度验证
需要样品测试或量测方案咨询？在线提交需求，或拨打 400-186-8882（上海 021-58381720），优尼康科技提供本地化技术支持与免费测样。
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