Filmetrics F54-XYT-300 自动测量光学膜厚仪 产品手册

简要说明 :
Filmetrics F54-XYT-300 自动光学膜厚仪手册,光谱反射法300mm晶圆全自动测绘,4nm~120μm、R-Theta旋转台,面向晶圆膜厚均匀性分析。
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产品简介

Filmetrics F54-XYT-300 是一款 300mm 晶圆全自动膜厚测绘仪,由优尼康科技代理供应。仪器搭载电动 XY 工作台与高性能 R-Theta 旋转台,专为 300mm/12 英寸大尺寸晶圆定制,支持极坐标与矩形多模式全域 Mapping,内置图案识别自动对位,无需手动换位即可完成全表面膜厚扫描。

核心参数

参数规格
产品型号F54-XYT-300
测量技术光谱反射法(非接触)
样品台类型电动XY工作台 + R-Theta旋转台
最大样品尺寸直径 300mm
厚度测量范围4nm~120μm(依配置)
测量重复性0.02nm
光斑尺寸2μm~100μm(依配置)
波长范围190nm~1700nm(依配置)
测绘速度最快 2点/秒

测量原理与软件

F54-XYT-300 基于光谱反射法,XY 工作台配合 R-Theta 旋转台实现极坐标与矩形多模式 Mapping,图案识别自动对位无标记定位。软件 FILMapper 支持 2D/3D 分布图、SPC 与多层建模。

典型应用

  • 半导体:300mm 晶圆氧化层/氮化硅厚度测绘、光刻胶均匀性分析

  • 化合物半导体:GaAs、SiC 薄膜厚度检测

  • LCD/OLED:ITO/TCO、OLED 层厚度测绘

  • 光伏:抗反射层厚度优化、TCO 电极层均匀性测绘

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