Zeta-20/P-17 玻璃硬盘品控量测

简要说明 :
KLA Zeta-20 与 P-17 组合量测玻璃硬盘边缘 Roll-off、粗糙度与倒角角度,实现品控判定。
文件版本 :
V1.0.1
文件类型 :
PPTX
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应用简介

玻璃硬盘基板(外径 97mm、中间通孔)需做边缘形貌与粗糙度品控。本文介绍 KLA Zeta-20 与 P-17 的组合量测方案:P-17 台阶仪沿边缘扫描 5mm 直线测 Roll-off 值(判定标准 47830μm),并测边缘倒角平边粗糙度 Ra 与倒角斜边角 θ;Zeta-20 白光共聚焦完成三维形貌与真彩色成像。

测量要点

  • Roll-off(ROR)测量:边缘 50nm 形变拐点定位

  • 边缘倒角平边粗糙度 Ra 与斜边角 θ 测量

  • Zeta-20 三维形貌 + 真彩色成像

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标签: KLA Zeta-20
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