Bowman K系列是一款 XRF 镀层测厚仪，由优尼康科技代理供应。仪器配备标准硅漂移探测器（SDD）与长寿命 50W 微焦点 X 射线管，XY 行程 304mm、Z 轴 228mm，4 位电动多准直器，可同时测量 5 层镀层、分析 30 种元素。伺服电机驱动的可编程 XY 平台支持模式匹配与自动对焦，适合多品种样品的质量控制。
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| XY 行程 | 12 英寸（304mm）× 12 英寸 |
| Z 轴行程 | 9 英寸（228mm） |
| 探测器 | 标准硅漂移探测器（SDD） |
| X射线管 | 长寿命 50W 微焦点 X 射线管 |
| 镀层 | 最多 5 层（基材+4层） |
| 同时分析元素 | 30 种 |
| 多准直器 | 4 位电动（4/8/12/24mil） |
| 元素范围 | 13Al-92U |
| 软件 | Bowman Archer（自定义 Excel 报告、ERP 导出） |
Bowman K 基于 X 射线荧光法，X 射线激发镀层元素特征荧光，经 SDD 探测器分析反演镀层厚度与成分。4 位电动多准直器按特征尺寸选择光斑，可变焦摄像头支持凹陷区域测量，符合 ASTM B568、DIN50987、ISO 3497 及 IPC-4552 标准。
PCB 线路板：镀层厚度与成分分析
半导体与电子元器件：连接器、引线框架镀层测厚
汽车零部件、紧固件：镀层质量控制
珠宝首饰、五金装饰：镀层厚度测量
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