Nanosurf AFSEM 真空环境用原子力显微镜 产品手册

简要说明 :
Nanosurf AFSEM 真空环境原子力显微镜手册,集成于 SEM 腔体实现 AFM-SEM 联用三维形貌与力学表征,面向失效分析与材料科研。
文件版本 :
V1.0.1
文件类型 :
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产品简介

Nanosurf AFSEM 是由 GETec 与 Nanosurf 联合开发的真空环境用原子力显微镜,由优尼康科技代理供应。它可直接安装于扫描电子显微镜(SEM)或双束系统(SEM/FIB)的腔室内,在同一位置实现 AFM 与 SEM 的相关性分析,既能获得高分辨成像,也能构造真实的三维表面形貌并测量高度、距离与材料属性。系统采用自感应探针技术,电子柱与样品之间仅需 4.5 mm 空间,兼容大多数电镜且不影响 SEM 正常操作。

核心参数

参数规格
XY 扫描范围90 µm × 90 µm
Z 向扫描范围10 µm
垂直方向噪音基底< 30 pm RMS
探针技术自感应探针(self-sensing)
电子柱与样品间距仅需 4.5 mm
粗定位样品台三轴 8 mm × 12 mm × 24 mm
安装方式腔室门直接安装,四螺丝快装,拆装约 5 分钟
测量模式静态力 / 动态力 / 相位 / 导电 AFM(C-AFM)/ 力谱 / 力调制
可联用技术FIB、EDX、纳米压痕台、张力牵拉台等
产地瑞士

测量原理与软件

AFSEM 将原子力显微镜集成进 SEM 腔体,在 SEM 大范围视场内精确定位悬臂探针,再用自感应探针完成接触、轻敲、相位等多种模式的扫描,输出三维形貌与力学信息。三轴粗定位台负责把探针移入或移出 SEM 视场,垂直方向与样品同步移动以避免撞针。配套控制软件支持智能测量、系统操作与数据分析,兼顾效率与易用性。

典型应用

  • 半导体封装与集成电路失效分析:AFM 与 SEM 同点相关成像

  • 锂电池电极材料表面形貌与导电性表征

  • 材料科学:镀膜、金属与聚合物表面三维形貌测量

  • 生物医药与高校科研:多模式成像与力谱分析

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