《ONTO PrimaScan P 产品手册》系统介绍该玻璃面板缺陷检测系统的测量原理、核心技术参数、软件操作与典型应用案例，是先进封装面板质量管控的参考文档。设备采用多通道激光扫描成像技术，面向 AICS 与 FOPLP 入厂玻璃面板，搭载表面翘曲与弯曲动态补偿功能，适配高形变面板，可稳定检出纳米级颗粒、划痕、崩边、裂纹与膜层应力等缺陷。
测量原理与技术架构（多通道激光扫描成像）
关键性能参数与量程说明（面板尺寸兼容、颗粒灵敏度、动态补偿）
软件功能与操作流程
典型先进封装面板应用案例
研发与工艺工程师：面板衬底工艺开发
质检与良率工程师：玻璃面板入厂/制程检测
采购与设备管理人员：配置比对
本手册对应机型：ONTO PrimaScan P（玻璃面板 / 先进封装缺陷检测）。同系列其他机型可按应用方向对照选型：
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