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《HORIBA SZ-100V2 粒度与Zeta电位分析仪产品手册》系统介绍该设备的测量原理、核心技术参数、软件操作与典型应用案例，是选型评估与日常操作的参考文档。
动态光散射（DLS）测粒原理与反演模型
Zeta电位与分子量测量关键参数
软件功能与样品测试操作流程
纳米材料、生物样品与胶体分散体系表征案例
研发与工艺工程师：纳米粒径与表面电荷表征
质检与良率工程师：胶体分散稳定性评价
采购与设备管理人员：配置比对与选型
需要样品测试或量测方案咨询？在线提交需求，或拨打 400-186-8882（上海 021-58381720），优尼康科技提供本地化技术支持与免费测样。
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