优尼康科技提供柔性显示全流程测量方案：光学轮廓仪(Profilm3D)、膜厚仪(F20/F50)、纳米压痕仪(G200X/iMicro)、XRF分析仪、台阶仪、电阻率仪等。覆盖柔性基板翘曲/曲率、薄膜封装(TFE)膜厚均匀性、激光剥离(LLO)形貌、有机/无机多层膜力学性能、金属电极成分/厚度等关键参数，助力可折叠/卷曲显示屏量产良率提升。
优尼康科技提供液晶显示技术（LCD/OLED）全流程测量方案：膜厚仪(F20/F50/F54-XY)、光学轮廓仪(Profilm3D)、纳米压痕仪(G200X)、台阶仪、XRF分析仪、水滴角测量仪等。覆盖TFT阵列膜厚、液晶盒间隙(Cell Gap)、偏光片/增亮膜厚度、配向膜摩擦形貌、彩色滤光片RGB厚度、ITO透明导电层、表面缺陷与面板翘曲等关键参数，助力显示面板良率与画质提升。
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