薄膜厚度仪F20桌面式通用型,USB连接电脑数秒出测量结果

2026-08-16 19:42:23 优尼康-MKT

薄膜厚度仪F20是一款桌面式通用型单点光学膜厚测量设备,其最为突出的特点是安装便捷——通过USB连接电脑,仅需几分钟即可完成部署,配置完成后数秒内即可获得测量结果。优尼康科技有限公司作为Filmetrics光反射膜厚仪中国区总代理,将这款高性能薄膜厚度仪F20引入中国市场。该薄膜厚度仪自推出以来累计发货数千台,曾获Photonics Spectra“Circle of Excellence”大奖,被评为全球25大技术创新型光电产品之一。薄膜厚度仪F20适用于半导体膜厚测量、显示技术、光学镀层和生物医疗等领域。


一、薄膜厚度仪F20的测量原理与技术指标


薄膜厚度仪F20采用光反射干涉原理实现厚度测量。当入射光在薄膜上下表面发生反射时,两束反射光相互干涉形成振荡光谱。薄膜厚度仪F20通过分析光谱的振荡频率,即可精确计算出薄膜的厚度——振荡越密集代表膜层越厚。与此同时,该薄膜厚度仪还能推导出材料的折射率和消光系数等光学常数。

在技术指标层面,薄膜厚度仪F20的厚度测量范围覆盖1nm至3mm。该薄膜厚度仪的测量精度达0.02nm。薄膜厚度仪F20的单次测量时间小于1秒。该薄膜厚度仪内置500余种材料数据库。薄膜厚度仪F20的光斑大小可在1.5mm至20μm之间调节。不同型号的薄膜厚度仪覆盖不同的厚度区间:F20-UV型号薄膜厚度仪测量范围为1nm-40μm,准确度为1nm或测量厚度的0.2%中取大值;F20-XT型号薄膜厚度仪可扩展至0.2μm-450μm。该薄膜厚度仪适配平面及弯曲表面,支持1mm至300mm的样品。


薄膜厚度仪


二、薄膜厚度仪F20的适用薄膜类型与行业应用


薄膜厚度仪F20可测量的薄膜类型极为广泛。该薄膜厚度仪适用于透明、半透明、低吸收系数薄膜,涵盖固态、液态和气态薄膜。薄膜厚度仪F20可测量的具体薄膜类型包括氧化物/氮化物、聚合物/光刻胶、ITO/TCO导电膜、光学镀层(TiO₂/SiO₂)、派瑞林/生物涂层、半导体材料(SiNx、a-Si)、OLED有机层、防水涂层/硬涂层等。该薄膜厚度仪支持单层膜、多层膜、平面及曲面样品的测量。

薄膜厚度仪F20的典型工业应用覆盖多个行业。在半导体制造领域,该薄膜厚度仪用于光刻胶、介电层(SiO₂/SiNx)、砷化镓、SOI、离子注入层的厚度测量。在显示技术领域,薄膜厚度仪F20用于OLED有机层、ITO/TCO、空气盒厚、液晶间隙的检测。在消费电子领域,该薄膜厚度仪用于防水涂层、射频识别、磁性材料、电子产品电路板涂层的测量。在光学镀层领域,薄膜厚度仪F20用于增透膜、硬涂层、PVD/CVD薄膜的检测。在太阳能电池领域,该薄膜厚度仪用于抗反射膜、透明电极、TOPCon工艺薄膜的测量。在生物医疗领域,薄膜厚度仪F20用于医疗器械涂层、派瑞林、药物释放涂层的检测。


三、薄膜厚度仪F20的软件与服务体系


薄膜厚度仪F20搭载FILMeasure软件,内置数千种材料数据库,支持单层/多层膜分析。该薄膜厚度仪的软件提供权限设置与历史数据追溯功能。优尼康科技为所有薄膜厚度仪F20用户提供24小时电话、邮件、在线技术支持,以及免费离线分析软件。薄膜厚度仪F20可选配XY10自动样品台、CP-1接触式探头、样品摄像头、透射率测量配件、显微镜连接配件及测量平台等多种配件。该薄膜厚度仪电源适配100-240VAC(50-60Hz),接口为USB2.0,支持Windows 10及以上(64位)操作系统。优尼康科技作为薄膜厚度仪F20的中国区总代理,持续为国内客户提供专业的技术支持与全生命周期服务。


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