精准洞察，赋能未来 —— KLA旗下Filmetrics光反射膜厚仪的原理及应用
在半导体、显示、新材料及科研等领域，薄膜厚度是决定产品性能与可靠性的关键参数。如何实现快速、无损、精准的膜厚测量，是众多工程师与研究人员关注的焦点。
为此，我们诚挚地邀请您参加于11月19日下午14:00举办的光学膜厚仪主题研讨会。本次研讨会，我们将深度解析KLA旗下 Filmetrics 品牌的光反射膜厚测量仪，为您带来从产品选型到原理应用的全方位知识盛宴。
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席位有限，诚邀您预留时间，共同参与这场技术盛会！
主题一：
Filmetrics 膜厚仪产品特点与选型指南
高级技术支持经理
陈贤良 Ycur Chen
优尼康科技有限公司
翌颖科技（上海）有限公司
带您纵览KLA 旗下Filmetrics光反射膜厚仪丰富的产品矩阵。我们将深入解析不同型号的核心技术特点、测量范围、精度及应用场景。您都将清晰地了解如何根据自身在精度、速度、预算和操作上的特定需求，做出最合理的膜厚仪型号选择。
会议流程
主题一
14:15
优尼康科技&翌颖科技企业介绍
14:18
Filmetrics品牌介绍
14:20
产品特点与选型指南
14:50
现场答疑与抽奖
主题二：
Filmetrics 膜厚仪测量原理及应用案例
应用技术经理
陆伟 Vic Lu
优尼康科技有限公司
翌颖科技（上海）有限公司
一种技术，如何赋能千行百业？在本环节，优尼康应用专家陆伟将深入浅出地阐述光学膜厚仪的测量原理与技术优势。带您跨越多个行业界限，全面展示KLA膜厚仪的强大适应能力。
会议流程
主题二
15:00
光反射膜厚仪原理介绍
15:20
F20应用介绍
15:30
F50应用介绍
15:50
现场答疑与抽奖
通过本次会议，您将获得：
1、系统知识
建立对光反射膜厚测量技术从原理到选型的完整认知。
2、实战经验
了解Filmetrics膜厚仪设备如何解决实际生产与研发中的测量难题。
3、互动答疑
与两位优尼康技术专家现场交流，获得一对一的专业解答。
4、惊喜好礼:
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