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破解曲面与粗糙表面测厚难题：Filmetrics F20 光学膜厚仪适配方案详解

在精密制造与材料科学领域，对非平面、非光滑表面进行薄膜厚度测量，一直是个技术挑战。传统的接触式测量方法容易损伤样品，而普通光学方法又易受表面散射或曲率影响导致结果失真。