光学膜厚仪-优尼康科技

Filmetrics F40 光学膜厚仪在医用球囊上的应用

医用球囊壁厚怎么测？切片破坏样品、千分尺压不准、超声分辨率不够。优尼康科技使用Filmetrics F40 光学膜厚仪，充气后直接测，微小光斑光学非接触，体部锥部肩部折叠区都能测，一秒钟出结果，不破坏样品。欢迎寄样免费实测。

2026-06-23 优尼康

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光学膜厚仪F20单点F50自动Mapping覆盖1nm至3mm全量程

光学膜厚仪是基于光反射干涉原理的精密测量设备，通过分析薄膜上下表面反射光的干涉光谱，精确计算薄膜厚度、折射率、反射率等关键参数。优尼康科技有限公司作为Filmetrics光学膜厚仪中国区总代理，自2012年起深耕精密薄膜测量领域，致力于为高科技企业、高校及科研机构提供专业的测量设备与解决方案。旗下光学膜厚仪产品线覆盖从单点手动测量到全自动Mapping系统，满足不同场景的测量需求。本文将系统梳理优尼康科技提供的光学膜厚仪产品体系、技术参数与应用场景。

2026-09-04 优尼康-MKT

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光学膜厚仪多层膜同步解析：一次测量获取厚度/折射率

多层膜结构在半导体制造、光学镀膜、显示面板等高端制造领域中极为常见。从光刻胶到介电层，从增透膜到透明导电层，每一层薄膜的厚度与光学特性都直接影响器件的电学性能和光学表现。然而，多层膜体系中的各层之间光学干涉相互叠加，使得传统的单层膜厚测量方法难以准确解析每一层的独立参数。
光学膜厚仪基于光谱反射干涉原理，通过分析薄膜表面对宽光谱多波长光的反射光谱，实现多层膜结构的精确测量。当入射光穿透不同物质的界面时，部分光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，反射光的多波长光谱产生震荡现象。光学膜厚仪通过分析光谱的震荡频率判断不同界面的距离，进而得出薄膜的厚度——光谱震荡越密集代表膜层越厚。

2026-08-25 优尼康-MKT

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