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HORIBA UVISEL Plus全光谱椭偏仪的现代薄膜测量解决方案

优尼康科技代理的HORIBA UVISEL Plus全光谱椭偏仪，采用50 kHz相位调制技术，190-2100 nm连续光谱覆盖，精度Ψ±0.01°，适用于半导体、显示、光伏等薄膜厚度与光学常数测量。