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优尼康科技将Filmetrics F50光学膜厚仪与自动缺陷扫描系统集成,成功应用于玻璃硬盘盘片的多层薄膜厚度与表面缺陷检测,为HAMR等下一代高密度硬盘提供精准质控方案。
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