高性能X射线荧光分析仪

产品描述:美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。 Bowman BA-100 Optics 机型采用业界最先进的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。 

  • 产品名称: 高性能X射线荧光分析仪
  • 品牌: 美国博曼
  • 产品型号: 101-G,100-B,100-P,100-O
  • 产地: 美国


高性能X射线荧光分析仪




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产品描述:


美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界最先进的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应最严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。

优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的最佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。


稳定的X射线管

  •      微聚焦50瓦Mo靶射线管(其它靶材可选); 小于100um的测量斑点

  •       射线出射点预置于射线管Be窗正中央

  •       长寿命的射线管灯丝

  •       独有的预热和ISO温度适应程序


多毛细管聚焦光学结构

  •     显著提高X射线信号强度

  •       获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

  •       小于100um直径的测量斑点

  •       经过验证,接近完美的测量精度



应用领域:

  • 常见的镀层应用

        PCB行业

        Au/Pd/Ni/Cu/PCB

  • 引线框架

        Ag/Cu

        Au/Pd/Ni/CuFe

  • 半导体行业

        Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材

        Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

  • 线材

        Sn/Cu

  • 珠宝、贵金属

        10,14,18Kt

  • 元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等








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