Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪

Filmetrics F20膜厚仪是一款兼具优异性价比与出色便携性的单点测量设备,广泛应用于半导体、材料研发及质量控制领域。其操作简便、测量快速,为各类薄膜厚度检测需求提供了经济可靠的解决方案。

  • 产品名称 单点光学膜厚仪
  • 品牌 Filmetrics
  • 产品型号 F20
  • 产地 美国


Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪



F20仪器图片


Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪产品介绍:

无论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点,Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪适用于各种应用。



Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪产品特点:

  • 非接触测量:避免损伤薄膜,适用于脆弱或敏感材料;

  • 高精度与宽量程垂直分辨率达纳米级,可测厚度范围从1nm3mm

  • 多场景适用性:基本上光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

  • 测量速度快:配置完成后,数秒内即可完成测量。



Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪测量原理:

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射,由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉,从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率,可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度(越多的震荡代表越大的厚度),同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

膜厚仪测量原理示意图



Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪膜层范例:

  • 薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等

  • 薄膜种类:透明及半透明薄膜,常见如氧化物、聚合物甚至空气

  • 薄膜状态:固态、液态和气态薄膜都可以测量

  • 薄膜结构:单层膜、多层膜;平面、曲面



Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪常见工业应用:

半导体膜层

显示技术

消费电子

派瑞林

光刻胶

OLED

防水涂层

电子产品/电路板

介电层

ITOTCOs

射频识别

磁性材料

砷化镓

空气盒厚

太阳能电池

医学器械

微机电系统

PVDCVD

铝制外壳阳极膜

硅橡胶



Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪产品参数:

波长范围:

380-1050nm

光源:

卤素灯

厚度测量范围:

15nm-70um

测量精度:

0.02nm

光斑大小:

1.5mm

样品台尺寸:

1mm-300mm

更多参数可联系我们获取



Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪测量图:

硅上二氧化硅测量厚度图

硅上氧化硅测量厚度数据








标签: KLA Filmetrics

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