KLA D600 探针式表面轮廓仪

KLA D600探针式表面轮廓仪,采用光学杠杆传感器,垂直分辨率0.38Å,台阶高度重复性5Å,Z向范围1200μm,探针力0.03-15mg可调。支持2D/3D扫描、台阶高度、粗糙度、翘曲度和薄膜应力(Stoney方程)测量。接触式直接测量,与材料光学特性无关。适用于半导体、LED、MEMS、太阳能、汽车和高校实验室。提供免费样品测试。

  • 产品名称 探针式表面轮廓仪
  • 品牌 KLA
  • 产品型号 D-600
  • 产地 美国

KLA D600 探针式表面轮廓仪

接触式台阶仪 | 光学杠杆传感器 | 亚埃级分辨率 | 纳米至毫米级台阶测量


KLA D600探针式表面轮廓仪

0.38Å
垂直分辨率
5Å
台阶高度重复性
1200μm
Z向扫描范围
0.03mg
最小探针作用力

D600 是一款采用光学杠杆传感器的接触式台阶仪,提供亚埃级垂直分辨率和最高1200μm的台阶高度测量范围。测量结果与材料特性无关——无论是透明还是不透明、高反射还是低反射材料,均可直接精确测量。标配200mm电动样品载台、500万像素彩色相机和0.03-15mg可调微力控制,是半导体、LED、MEMS和材料科学领域工艺监控的理想工具。

五大核心优势
高精
亚埃级分辨率
光学杠杆传感器提供0.38Å垂直分辨率和5Å台阶高度重复性,轻松应对纳米级薄膜台阶测量需求。
普适
材料无关性
接触式直接测量,与材料光学特性无关。透明、不透明、高反射或低反射率材料均可直接获得准确结果。
微力
微力可控
探针作用力0.03-15mg可调,即使是最脆弱的光刻胶、聚合物或生物涂层也能安全测量,不损伤表面。
多维
2D/3D全功能
支持2D轮廓扫描和3D形貌成像,同时提供粗糙度、波纹度、翘曲度和薄膜应力(Stoney方程)测量。
便捷
即装即用
体积小巧,操作直观。500万像素彩色相机精准定位测量区域,简单培训即可快速上手使用。
典型应用领域
半导体前段/后段工艺LED & 化合物半导体太阳能电池MEMS 微机电系统医疗设备汽车工程高校 & 研究机构材料科学实验室
六项核心测量功能
台阶高度测量从纳米级到1200μm的台阶高度精确测量,适用于蚀刻、溅射、沉积、旋涂、CMP等工艺中材料去除或添加量的量化分析。
2D表面轮廓扫描单线扫描获取样品表面高度变化曲线,横向分辨率0.1μm,最大扫描长度30mm,快速评估工艺均匀性。
3D形貌成像多条平行扫描线合成三维表面形貌图,横向分辨率1μm,最大扫描区域55mm×120mm,直观呈现表面特征。
粗糙度 & 波纹度符合国际标准的线粗糙度和面粗糙度参数分析,量化表面纹理特征,满足工艺监控和质量控制需求。
翘曲度 & 曲率半径测量样品整体翘曲和曲率半径,结合Stoney方程计算薄膜残余应力,优化薄膜沉积工艺参数。
薄膜应力测量基于Stoney方程,通过测量薄膜沉积前后基底的曲率变化,精确计算薄膜应力,广泛应用于半导体和光学镀膜行业。
测量原理

光学杠杆传感技术是D600的核心。探针沿样品表面扫描时,转轴组件上方的激光束因表面起伏发生偏转。偏转光束被分为两路投射到光电探测器——一路用于小台阶高分辨率测量,另一路用于大台阶测量。激光束偏转被实时转换为高度信号。

核心优势:传感器组件质量轻,可实现0.03mg超低力测量;响应速度快,精准追踪表面形貌变化。

D600光学杠杆传感器原理示意图
接触式台阶仪 vs 光学轮廓仪
对比维度D600 探针式轮廓仪光学轮廓仪(白光干涉)
测量原理接触式——金刚石探针扫描非接触式——白光干涉光学成像
材料适用性与材料光学特性无关,全适用依赖表面反射率,低反射材料受限
台阶高度范围纳米级至1200μm纳米级至毫米级
垂直分辨率0.38Å亚纳米级(PSI模式)
测量维度2D线扫描 + 3D面扫描3D面扫描
典型优势材料无关、高台阶、低成本非接触、无损伤、速度快
产品参数
垂直分辨率0.38Å台阶高度重复性5Å 或 0.1%(取较大值)
Z向扫描范围1200μm探针作用力范围0.03 – 15mg(可调)
2D最大扫描长度30mm(分辨率0.1μm)3D最大扫描区域55mm × 120mm(分辨率1μm)
扫描速度10 – 400μm/s采样率60 – 2000Hz
XY样品台(自动)150mm × 178mmTheta旋转台(手动)360°
样品台直径80mm / 20mm最大样品厚度30mm
相机500万像素高分辨率彩色相机传感器技术光学杠杆传感器
认证符合CE标准
实测数据展示
D600表面轮廓测量数据图1
D600台阶高度测量数据图2
D600 3D形貌扫描数据图3
常见问题
D600和光学轮廓仪(如Profilm3D)有什么区别?
D600是接触式台阶仪,使用金刚石探针扫描样品表面;光学轮廓仪是非接触式白光干涉成像。核心区别:D600测量结果与材料光学特性无关,透明、不透明、高反射、低反射材料均可直接测量;D600特别适合测量高台阶(最高1200μm),光学轮廓仪在大台阶处可能受景深限制;光学轮廓仪可快速获取大面积3D形貌,D600适合高精度单线台阶测量。两者在实际应用中互为补充。
D600的探针会划伤我的样品吗?
D600的探针作用力可在0.03-15mg范围内灵活调节。对于光刻胶、聚合物、生物涂层等软材料,选择0.03-1mg的超低力设置可安全测量,不会产生可见划痕。对于硬质材料(如金属、陶瓷),使用较高作用力可获得更稳定的测量信号。探针尖端半径也有多种规格可选,可根据样品类型灵活匹配。
D600可以测量哪些参数?
D600支持以下核心测量功能:台阶高度(纳米至1200μm);2D表面轮廓和3D形貌成像;线粗糙度和面粗糙度参数(Ra、Rq、Rz等);波纹度分析;样品翘曲度和曲率半径;基于Stoney方程的薄膜应力计算。一台设备覆盖从工艺监控到失效分析的全部表面轮廓测量需求。
D600的光学杠杆传感器有什么优势?
光学杠杆传感器是D600区别于传统台阶仪的核心技术。它利用激光束在转轴组件表面的反射来跟踪探针的垂直位移,整个传感器组件质量极小,因此可以实现0.03mg的超低探针力测量。同时响应速度快,能精准追踪表面形貌的快速变化。双探测器设计——一路用于小台阶高分辨率测量,另一路用于大台阶测量——兼顾了高精度和宽动态范围。
D600适合哪些行业和应用?
D600广泛应用于:半导体晶圆制造(光刻胶厚度、蚀刻深度、CMP工艺监控)、LED和化合物半导体、MEMS微机电系统、太阳能电池、汽车工程、医疗设备涂层以及高校材料科学研究。特别适合需要精确量化材料添加或去除量的工艺步骤,也常用于SIMS凹陷深度测量和薄膜应力分析。
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