Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪

优尼康科技提供的Filmetrics F10-RT光学膜厚测量仪，以真空镀膜工艺为设计目标，一键式操作即可同步获得薄膜的反射光谱和透射光谱。厚度测量范围1nm–150μm，测量精度0.01nm，稳定性0.05nm，波长范围190–1700nm，内置钨卤素灯和氘灯双光源系统，覆盖紫外至近红外全波段。1秒内完成数据采集，支持FWHM半高宽分析和颜色分析。可选配厚度和折射率分析模块，使F10-RT具备与Filmetrics F20相同的多层薄膜分析能力。整机无运动部件，USB供电，结构紧凑稳定。适用于真空镀膜工艺监控、光学镀膜质量控制、半导体薄膜检测、显示器玻璃等领域的反射/透射率及薄膜厚度综合分析。优尼康科技提供专业技术支持。

产品名称：薄膜厚度测量仪

品牌： Filmetrics

产品型号： F10-RT

产地：美国

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪

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Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪产品介绍：

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪以真空镀膜为设计目标，F10-RT 薄膜厚度测量仪只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。只需简单操作。用户就能进行 FWHM 并进行颜色分析。可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪产品特点优势：

同步测量薄膜的反射率/穿透率，1s内获得结果；
简单快速、易于使用的分析优点；
设备具有完整标准配置，确保设备高度可靠；
测量结果能被快速地导出和打印。

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪产品测量原理：

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

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Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪产品应用与膜层范例：

半导体膜层	显示技术	消费电子	派瑞林
光刻胶	OLED	防水涂层	电子产品/电路板
介电层	ITO和TCOs	射频识别	磁性材料
砷化镓	空气盒厚	太阳能电池	医疗器械
微机电系统	PVD和CVD	铝制外壳阳极膜	硅橡胶

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪产品参数：

波长范围：	190nm-1700nm	光源：	钨卤素灯、氘灯
厚度测量范围：	1nm-150μm	测量精度：	0.01nm
光斑大小：	6mm	稳定性：	0.05nm
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