Filmetrics F54 高分辨率自动薄膜测量系统

优尼康科技提供的Filmetrics F54光学膜厚测量仪(膜厚仪),采用光谱反射(白光干涉)技术,非接触式测量薄膜厚度、折射率、反射率、吸收率和表面粗糙度。五种配置覆盖4nm至120μm膜厚测量范围,波长范围190–1700nm,最小光斑尺寸可达2μm,测量精度达0.02nm。配置电动R-Theta(极坐标)或XY自动载物台,按预设图案自动移动定位,最快每秒测量2个点位,支持直径达450mm的大尺寸样品。内建数十种极坐标、矩形、线性测绘模式,用户可自定义测量点,2D/3M膜厚分布图实时呈现。内置130+种材料库与高级建模算法,涵盖从纳米级超薄膜至百微米厚膜的全场景需求。适用于半导体晶圆制造(光刻胶、氧化物/氮化物、SOI)、化合物半导体、液晶显示器LCD(液晶间隙、ITO/TCO透明导电膜)、光学涂层(硬质涂层、增透膜)、MEMS微机电系统、生物医学涂层(导管/支架涂层)、OLED显示、太阳能电池及派瑞林涂层等行业。优尼康科技提供专业技术支持。

  • 产品名称 高分辨率自动薄膜测量系统
  • 品牌 Filmetrics
  • 产品型号 F54
  • 产地 美国
  • 测量厚度范围 4nm – 120μm(依配置)
  • 测量精度 0.02nm
  • 波长范围 190nm – 1700nm
  • 产品特点 微区自动Mapping
Filmetrics F54 高分辨率自动薄膜测量系统 | 全自动Mapping膜厚仪

Filmetrics F54 高分辨率自动薄膜测量系统

全自动Mapping膜厚仪 | 一键式薄膜厚度面形貌分析 | 可编程自动样品台


Filmetrics F54 高分辨率自动薄膜测量系统

4nm~120μm
厚度测量范围
2μm
最小光斑尺寸
0.02nm
测量精度
450mm
最大样品直径
2点/秒
测绘速度
产品介绍

Filmetrics F54 是一款高分辨率自动薄膜测量系统,采用光谱反射法(白光干涉技术),非接触式测量薄膜厚度、折射率、反射率和表面粗糙度。五种配置覆盖4nm至120μm膜厚测量范围,波长范围190–1700nm,最小光斑尺寸可达2μm,测量精度达0.02nm。

配置电动R-Theta(极坐标)或XY自动载物台,按预设图案自动移动定位,最快每秒测量2个点位,支持直径达450mm的大尺寸样品。内建数十种极坐标、矩形、线性测绘模式,用户可自定义测量点,2D/3D膜厚分布图实时呈现。内置500+种材料库与高级建模算法,涵盖从纳米级超薄膜至百微米厚膜的全场景需求。

行业标杆
Filmetrics F54 广泛应用于半导体晶圆制造、化合物半导体、LCD/OLED显示、光学涂层、MEMS、太阳能电池等领域,是薄膜厚度均匀性分析的理想工具。
核心优势
全自动Mapping

电动R-Theta或XY载物台,按预设图案自动定位,最快2点/秒,支持450mm大尺寸样品。

灵活测绘模式

内建数十种同心圆、矩形、线性模式,用户可自定义无限数量测量点,数分钟完成配方建立。

2D/3D可视化

实时生成膜厚分布图,多种视角检视均匀性,支持数据导出与对比分析。

宽范围高精度

4nm~120μm厚度范围,精度0.02nm,五种配置满足从超薄到厚膜的全场景需求。

丰富材料库

内置500+种材料库,支持高级建模与自定义色散,精准拟合多层膜结构。

典型应用领域
半导体晶圆
光刻胶
介电层/氧化物
化合物半导体
OLED显示
ITO/TCO导电膜
LCD液晶间隙
MEMS微机电
光学涂层/AR膜
太阳能电池
派瑞林涂层
生物医学涂层
PVD/CVD薄膜
防水涂层
阳极氧化膜
测量原理

光谱反射法:白光照射样品,薄膜上下界面反射光发生干涉,形成特征光谱。通过分析光谱的振荡频率,可精确计算膜层厚度(振荡越密集厚度越大),同时获得折射率(n)、消光系数(k)和反射率等光学常数。F54配备高精度光谱仪和自动载物台,实现全自动多点Mapping测量,快速生成厚度均匀性分布图。

光谱反射法原理
产品参数
型号F54 (五种配置可选)品牌Filmetrics (KLA)
测量技术光谱反射法测量方式非接触式 / 自动Mapping
波长范围190nm – 1700nm光源钨卤素灯 / 氘灯
厚度范围4nm – 120μm(依配置)最小光斑2μm(高倍物镜)
测量精度0.02nm准确度1nm 或 0.2% 取较大者
稳定性0.05nm样品台类型R-Theta(极坐标)/ XY自动载物台
最大样品尺寸450mm直径测绘速度最快2点/秒
测绘模式同心圆、矩形、线性、自定义点阵
软件功能FILMeasure、2D/3D膜厚分布图、130+材料库、多层建模、数据导出
更多定制配置请联系优尼康科技
测量数据展示

F54膜厚仪Mapping测量图

典型2D/3D膜厚分布图,直观呈现样品表面均匀性

客户评价

“F54的全自动Mapping功能极大提升了我们晶圆厂光刻胶厚度均匀性的检测效率。可编程测量点和2D分布图让工艺调整变得非常直观。”

—— 半导体晶圆制造厂 工艺集成部

“用于OLED面板的ITO和有机层厚度Mapping,速度快且精度高。支持450mm样品,完全满足我们大尺寸产线的需求。”

—— 显示面板制造商 阵列工程部
常见问题
F54可以测量多大尺寸的样品?+

F54支持直径达450mm的样品,可配置R-Theta(极坐标)或XY自动载物台,满足12英寸晶圆及大面积面板的测量需求。

测绘速度是多少?可以自定义测量点位吗?+

最快每秒可测量2个点位。支持数十种内建测绘模式(同心圆、矩形、线性),用户也可自定义无限数量测量点,数分钟内即可建立配方。

可以测量多层膜结构吗?+

可以。F54内置高级建模算法和130+种材料库,支持多层膜结构的厚度和折射率分析,可同时输出各层参数。

最小可测光斑是多少?+

搭配高倍物镜,最小光斑尺寸可达2μm,适用于微小区域或图形化样品的薄膜厚度测量。

F54与F20/F10系列有什么区别?+

F54是专为全自动Mapping设计的型号,配备自动载物台和测绘软件,适合大面积均匀性分析;F20/F10系列为单点测量或产线快速抽检设计,定位不同。

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标签: KLA Filmetrics

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