HORIBA SZ-100V2 激光粒度仪

优尼康科技提供的HORIBA SZ-100V2纳米粒度及Zeta电位分析仪,采用动态光散射(DLS)原理,粒径测量范围0.3nm~10μm,精度±2%,Zeta电位测量范围-500mV~+500mV,分子量测量范围1×10³~2×10⁷Da。一台设备可同步完成粒径、Zeta电位、分子量及第二维利系数(A₂)三项核心参数检测。双光路设计支持90°和173°双角度测量,样品浓度覆盖ppm级至40%,低至12μL微量样品即可上机检测,常规测量仅需2分钟。适用于生物制药(蛋白质表征、药物输送系统、脂质体)、纳米材料(量子点、纳米金属氧化物、碳纳米管)、涂料油墨(颜料分散、炭黑、喷墨配方)、化工(陶瓷浆料、硅溶胶、微乳液)、新能源材料等领域。优尼康科技提供专业技术支持。

  • 产品名称 HORIBA SZ-100V2纳米颗粒分析仪
  • 品牌 HORIBA
  • 产品型号 SZ-100V2
  • 产地 日本

HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪 | 优尼康科技

HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪

动态光散射(DLS)技术 | 粒径·Zeta电位·分子量三合一 | ppm级至40%浓度 | 微量样品12μL


HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪
0.3nm–10μm
粒径测量范围
−500~+500mV
Zeta电位范围
1×10³–2×10⁷ Da
分子量测量范围
90°+173°
双光路双角度测量
产品介绍

SZ-100V2 是一台小巧而强大的纳米颗粒表征系统,一机整合动态光散射(DLS)粒径测量、Zeta电位分析和分子量测定三大功能。


独特的双光路设计(90° 和 173°)覆盖从 ppm 级稀溶液到 40% 高浓度浆料,仅需 12μL 微量样品即可上机,常规测量仅需约 2 分钟。仪器通过静态光散射(德拜记点法)直接给出绝对分子量(Mw)与第二维利系数(A2),无需额外附件。广泛用于生物制药、纳米材料、涂料油墨、化工与能源领域的研发与质量控制。优尼康科技作为 HORIBA 粒度仪中国区代理,提供本地化的技术选型、安装培训与售后支持。

行业验证
HORIBA SZ-100V2 基于动态光散射、激光多普勒电泳与静态光散射三大原理,一机完成粒径、Zeta电位与分子量三种纳米颗粒核心参数的表征。仪器制造经 NIST 可溯源标准粒子验证(如胶体金 RM8011 / RM8012 / RM8013),粒径测量准确度约 ±2%。优尼康科技作为 HORIBA 粒度仪中国区代理,提供本地化选型咨询、安装培训与售后技术支持。
核心优势
一台仪器三项参数

同步完成粒径、Zeta电位和分子量(Mw / A2)测量,无需更换硬件,提升研发与质检效率。

超宽浓度覆盖

从 ppm 级蛋白质到 40% 高浓度浆料均可直接测量,几乎无需稀释,适应各种实际样品状态。

微量样品适配

专为珍贵样品设计,最低仅需 12μL,兼容一次性、半微量、玻璃及流动池,满足多样需求。

双光路双角度

90° 和 173° 双检测角度自动优化信噪比,准确表征宽分布、多分散体系,高浓度与稀溶液皆宜。

防交叉污染设计

一次性 Zeta电位样品池杜绝样品间交叉污染;专用石墨电极可测高盐、强腐蚀样品。

典型行业应用
生物制药
纳米材料
涂料油墨
半导体CMP浆料
电池与能源材料
化妆品与个人护理
食品与饮料
学术与科研
应用详解
应用领域粒径 / Zeta分析场景典型测量对象
生物制药蛋白、抗体、脂质体、疫苗等的粒径与 Zeta电位表征,用于稳定性与聚集风险评估。单克隆抗体、mRNA疫苗、脂质体、纳米药物载体
纳米材料金属 / 氧化物纳米颗粒、量子点、碳材料的粒径分布与分散稳定性评估。金纳米颗粒、量子点、碳纳米管、纳米氧化物
涂料油墨色浆、墨水、涂层的粒径控制,影响颜色强度、光泽与印刷适性。颜料分散体、喷墨墨水、涂料乳液
半导体CMP浆料抛光液粒径分布影响晶圆表面平坦化质量与缺陷率。CMP抛光液、研磨颗粒、硅溶胶
电池与能源材料锂电正负极、导电剂的粒径影响容量、倍率与循环性能。正极材料、负极材料、导电炭黑
化妆品与个人护理乳液、防晒、啫喱的液滴 / 颗粒粒径与胶体稳定性评估。乳液、防晒剂、啫喱
食品与饮料乳品、饮料中胶体分散稳定性与口感评估。牛奶、蛋白饮料、酱料
学术与科研高校与研究所纳米表征通用平台,支撑材料与生命科学课题。各类纳米分散体系
测量原理
动态光散射(DLS)— 粒径

通过纳米粒子布朗运动引起散射光强波动,分析波动速度与粒径的关系,覆盖 0.3nm 至 10μm。双光路中 90° 适合稀溶液、173° 背散射适合高浓度与浑浊样品。

激光多普勒电泳 — Zeta电位

施加电场使带电粒子运动,测量散射光多普勒频移,得到 Zeta电位(−500~+500mV),用于评估分散体系的稳定性。

静态光散射 — 分子量

利用德拜记点法,测量不同浓度下的散射光强,计算绝对分子量(Mw)和第二维利系数(A2),标配功能,无需额外附件。

附件与升级模块
样品池选项

一次性样品池:经济、无交叉污染;半微量 / 微量池:仅需 100μL 或 12μL;玻璃池 / 流动池:可重复使用或在线连接;Zeta电位塑料 / 玻璃池:兼容水相与有机相。

升级模块

自动滴定仪:pH、浓度自动滴定,便于等电点测定;石墨电极:耐强腐蚀、高盐样品;微量样品池套件:12μL 超微量测量。

产品技术参数
参数名称规格
测量原理粒径:动态光散射法(DLS);Zeta电位:激光多普勒电泳法;分子量:德拜记点法(静态光散射)
粒径测量范围0.3 nm – 10 μm
Zeta电位范围−500 mV – +500 mV
分子量范围(德拜)1,000 – 2×10⁷ Da
分子量范围(MHS)540 – 2×10⁷ Da
最大样品浓度40 wt%
测量角度90° 和 173°(自动或手动选择)
样品池类型一次性、半微量、微量、玻璃、流动池、Zeta电位专用池
自动滴定仪可选(pH / 浓度滴定)
最小样品量12 μL(微量池)
典型测量时间约 2 分钟
测量案例

生物材料:胶体金颗粒粒径测量(NIST 标准物质)

NIST 标准物质RM8011 (10nm)RM8012 (30nm)RM8013 (60nm)
NIST 参考值 (nm)13.526.555.3
SZ-100V2 测量值 (nm)11.026.655.4
SZ-100V2 胶体金粒径测量结果

以 NIST 可溯源胶体金标准物质验证粒径测量结果与参考值的一致性。

本地化服务与技术支持

SZ-100V2 由 HORIBA 制造,优尼康科技作为 HORIBA 粒度仪中国区代理,提供从选型咨询、安装培训到售后的专业技术支持。如需评估样品适用性,可寄送样品或由工程师协助测试,确认测量方案后再行采购。

客户评价

“在生物制药研发中,蛋白、抗体与脂质体的粒径和 Zeta电位直接影响稳定性与聚集行为。SZ-100V2 一机完成粒径、Zeta电位与分子量的表征,微量样品即可上机,适合珍贵蛋白与配方筛选阶段的快速评估。”

—— 某生物制药研发人员

“纳米材料的分散稳定性很大程度由 Zeta电位决定。我们用 SZ-100V2 监控金纳米颗粒、量子点等体系的 Zeta电位与粒径分布,双角度设计对高浓度浆料也能稳定测量,为配方优化提供依据。”

—— 某纳米材料研究人员

“涂料与油墨开发中,色浆和喷墨墨水的液滴粒径分布决定颜色强度、光泽与印刷适性。SZ-100V2 的宽浓度覆盖让我们几乎无需稀释即可直接测量,日常质控效率较高。”

—— 某涂料油墨配方工程师
常见问题
SZ-100V2 可以测量高浓度样品吗?需要稀释吗?+

可以。SZ-100V2 的设计允许直接测量高达 40 wt% 的样品,几乎无需稀释。独特的 173° 背散射光路特别适合高浓度和浑浊样品,避免了多次散射的干扰;对于低浓度样品(如蛋白质),90° 光路提供更高灵敏度。双光路自动优化,覆盖从 ppm 级到高浓度的全范围。

Zeta电位测量有什么实际意义?+

Zeta电位是衡量分散体系稳定性的关键参数。通常 Zeta电位绝对值大于 30mV 表示体系稳定,低于 20mV 则容易发生团聚或沉降。通过调节 pH、离子强度或添加表面活性剂,可以优化 Zeta电位,从而在涂料、墨水、陶瓷浆料等产品开发中实现长期稳定分散。

分子量测量需要额外附件吗?+

不需要。SZ-100V2 通过静态光散射(德拜记点法)直接测量绝对分子量(Mw)和第二维利系数(A2),是标配功能,只需配备标准样品池和一系列浓度的样品即可。也可通过 Mark-Houwink 方程从 DLS 粒径估算分子量。

如何处理强酸、强碱或高盐样品?+

HORIBA 提供专用的石墨电极和耐腐蚀 Zeta电位样品池,专门用于测量高盐、强酸强碱等恶劣环境样品。同时,一次性样品池也能有效避免交叉污染。

设备操作是否复杂?需要专门培训吗?+

SZ-100V2 配备了智能化软件,自动优化测量参数和数据分析。简单的引导式操作流程使新用户也能快速上手,同时提供全面的培训资料和应用支持。

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