Bowman K系列 XRF高精度镀层测量系统 | 优尼康Bowman K系列 XRF高精度镀层测量系统
大行程可编程XY平台 · 多准直器 · 可变焦摄像头 | 专为多品种样品质量控制设计
产品介绍
优尼康科技提供的Bowman K系列X射线荧光（XRF）镀层测厚系统，专为处理多品种样品的质量控制部门设计，配备标准硅漂移探测器（SDD）和长寿命50W微焦点X射线管。系统在高度不超过9英寸（228mm）的工件上拥有12英寸（304mm）×12英寸（304mm）的可测量区域。
标配4位（4、8、12和24mil）电动多准直器，可选尺寸覆盖2×2mil至60mil，可变焦摄像头支持0.25英寸至3.5英寸焦距调节，可对凹陷区域进行测量。系统可同时测量最多5层镀层（基材+4层镀层），每层最多可分析10种元素，同时分析多达30种元素成分。元素测量范围覆盖13号铝元素至92号铀元素。
伺服电机驱动的可编程XY平台支持模式匹配和自动对焦，悬臂门设计便于样品存取，表格视图功能可对整个可测量区域成像并一键导航定位。运行Bowman Archer软件，直观GUI界面支持自定义Excel报告，数据可无缝导出至ERP系统。系统符合ASTM B568、DIN50987、ISO 3497及IPC-4552等行业标准。
多品种 · 大行程Bowman K系列 专为多品种样品质量控制设计，12"×12"大行程可编程平台，悬臂门方便存取，表格视图一键导航，是实验室和产线镀层厚度检测的理想选择。
核心优势
大行程可编程XY平台12英寸×12英寸（304mm×304mm）可编程工作台，伺服电机驱动，移动精确、快速、平稳，配合模式匹配和自动对焦，确保测量精准。
多准直器 + 可变焦摄像头标配4位电动多准直器（4/8/12/24mil），可选尺寸2×2mil至60mil；可变焦摄像头（0.25~3.5英寸），轻松测量凹陷区域。
高分辨SDD探测器硅漂移探测器（SDD），分辨率190eV或更高，峰位长期稳定，无需频繁校准，配合微聚焦X射线管实现高精度分析。
表格视图与智能导航整个可测量区域成像，单击鼠标即可导航到任意位置；内置操纵杆可移动XY平台，无需软件干预，操作便捷。
Archer软件 · ERP导出直观GUI界面，支持自定义Excel报告，数据可无缝导出至ERP系统；批次号检索、一键报告、密码保护，所有结果自动保存。
符合国际标准系统符合ASTM B568、DIN50987、ISO 3497及IPC-4552等行业标准，确保测量结果的可信度与合规性。
典型应用领域
PCB线路板
半导体晶圆
连接器
电子元器件
引线框架
紧固件
汽车零部件
航空航天
珠宝首饰
五金装饰
电镀溶液分析
ROHS有害元素
测量原理
X射线荧光 (XRF) 原理
Bowman K系列利用X射线荧光原理测量镀层和成分。当高能X射线照射金属薄膜表面时，入射光子击出薄膜或基底材料原子的内层电子形成空穴。外层电子跃迁填补空穴时释放特征X射线荧光，其能量与元素的原子序数一一对应，通过荧光的能量可定性分析元素，通过荧光强度可定量分析厚度与成分。
K系列大行程与多准直器设计
12"×12"可编程平台配合多准直器（4~24mil标准，可选2×2~60mil）和可变焦摄像头（0.25~3.5英寸），可灵活应对不同尺寸、形状和凹凸特征的样品，实现精准定位和高质量测量，尤其适合多品种、大批量样品的质量控制。
产品参数
| 元素测量范围 | 13号铝元素 至 92号铀元素 | X射线管 | 50W (50kV, 1mA) 微聚焦W阳极管 (可提供Cr/Mo/Rh) |
| 探测器 | 高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，分辨率≥190eV | 准直器 | 标配4位 (4/8/12/24mil)，可选2×2~60mil |
| XY平台行程 | 12英寸 × 12英寸 (304mm × 304mm) | Z轴行程 | 9英寸 (228mm) |
| 内腔尺寸 (WDH) | 24英寸 × 24英寸 × 9英寸 (609×609×228mm) | 工作台尺寸 | 12英寸 × 12英寸 (304.8×304.8mm) |
| 分析能力 | 最多5层镀层(4层+基材)，每层10个元素，同时分析多达30种元素成分 | 摄像头 | 可变焦 (0.25~3.5英寸)，可选配双摄像头 |
| 软件 | Bowman Archer (自定义Excel报告，ERP导出，密码保护) | 特殊功能 | 表格视图、模式匹配、自动对焦、可选操纵杆/电子停止 |
| 符合标准 | ASTM B568, DIN50987, ISO 3497, IPC-4552 | 可选配置 | RoHS选件、双摄像头、内置操纵杆、电子停止 |
| 更多定制配置及详细参数请联系优尼康科技 |
产品应用详解
单层与合金镀层精确测量Au、Ag、Ni、Cu、Sn、Zn等单层镀层厚度；同时分析ZnNi、SnPb等合金镀层的厚度与成分比例，满足电镀工艺控制需求。
多层镀层分析支持Au/Ni/Cu、Sn/Ni/Cu、Cr/Ni/Fe、Au/Pd/Ni/Cu等多种多层镀层结构，一次测量即可获得各层厚度，助力高端电子与汽车零部件质量管控。
电镀溶液与ROHS可分析电镀溶液中金属离子浓度，监控电镀液寿命；快速筛查ROHS有害元素（Pb、Hg、Cd、Cr等），确保产品合规。
大样品与多品种快速切换12"×12"大行程平台配合表格视图一键导航，模式匹配和自动对焦，可快速切换不同品种样品，特别适合实验室和多品种产线质量控制。
客户评价
“K系列的大行程平台和表格视图功能极大提升了我们实验室多品种样品的检测效率。一键导航和模式匹配非常实用，测量精度和重复性都很出色。”
—— 电子元器件检测实验室 主任
“用于PCB线路板和连接器的镀层厚度控制，K系列的多准直器和可变焦摄像头可以轻松应对各种形状的样品，数据导出至ERP系统也很方便。”
—— PCB制造商 质量总监
常见问题
K系列与B系列的主要区别是什么？+
K系列专为多品种样品质量控制设计，配备12"×12"可编程XY平台、多准直器（4位标准）和可变焦摄像头（0.25~3.5英寸），支持模式匹配和自动对焦，适合大尺寸和复杂形状样品。B系列为基础机型，配备固定样品台。
K系列可以测量多大尺寸的样品？+
系统在高度不超过9英寸（228mm）的工件上，可测量12英寸×12英寸（304mm×304mm）的区域。内腔尺寸为24英寸×24英寸×9英寸（609×609×228mm）。
什么是表格视图功能？+
表格视图可对整个可测量区域进行成像，操作员只需单击鼠标即可导航到任何位置，配合内置操纵杆，可快速定位测量点，尤其适合多品种样品的快速切换。
K系列支持哪些准直器尺寸？+
标配4位电动多准直器，尺寸为4、8、12和24mil。可选尺寸覆盖2×2mil至60mil，可根据不同特征尺寸选择合适的测量光斑。
软件支持导出到ERP系统吗？+
是的。Bowman Archer软件支持自定义Excel报告，数据可无缝导出至ERP系统，方便质量数据的追溯和管理。
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