发光光源
网站首页
产品中心
薄膜厚度测量
Filmetrics光学膜厚仪
高精度椭偏仪
XRF镀层测厚仪
表面形貌与粗糙度测量
白光干涉轮廓仪
白光共聚焦显微镜
触针式台阶仪
原子力显微镜(AFM)
材料力学/电学分析
纳米压痕仪
电阻率测量仪
实验室环境改善
主动式减振系统
被动式减振系统
主动式消磁系统
HORIBA科学仪器
纳米粒度仪
拉曼光谱仪
接触角测试仪
KRUSS DSA25系列
KRUSS DSA30系列
KRUSS DSA100系列
KRUSS MSA系列
配件中心
样品台
发光光源
标准片
参考片
滤光片
光源(灯泡)
光纤
探针
接触探头
新闻资讯
先进封装中的薄膜测量关键技术解析
薄膜铌酸锂技术解析:Pockels效应、Smart-cut工艺与三大性能优势
AI算力引爆薄膜铌酸锂:800G/1.6T光互连的新引擎
光学膜厚仪操作规范与使用细节全解析
查看更多 >>
应用领域
项目案例
新闻资讯
下载中心
产品手册
薄膜厚度测量
表面形貌与粗糙度测量
实验室环境改善
材料力学与电学分析
光学缺陷检测系统
接触角测量仪
HORIBA科学仪器
其他测量与耗材
产品使用说明
薄膜厚度测量
表面形貌与粗糙度测量
实验室环境改善
材料力学与电学分析
光学缺陷检测系统
接触角测量仪
HORIBA科学仪器
其他使用说明
应用测量方案
应用白皮书
应用文档
行业分析报告
新闻资讯
先进封装中的薄膜测量关键技术解析
薄膜铌酸锂技术解析:Pockels效应、Smart-cut工艺与三大性能优势
AI算力引爆薄膜铌酸锂:800G/1.6T光互连的新引擎
光学膜厚仪操作规范与使用细节全解析
查看更多 >>
实用工具
薄膜计算器
膜厚Mapping
新闻资讯
先进封装中的薄膜测量关键技术解析
薄膜铌酸锂技术解析:Pockels效应、Smart-cut工艺与三大性能优势
AI算力引爆薄膜铌酸锂:800G/1.6T光互连的新引擎
光学膜厚仪操作规范与使用细节全解析
查看更多 >>
关于我们
加入我们
联系我们
新闻资讯
先进封装中的薄膜测量关键技术解析
薄膜铌酸锂技术解析:Pockels效应、Smart-cut工艺与三大性能优势
AI算力引爆薄膜铌酸锂:800G/1.6T光互连的新引擎
光学膜厚仪操作规范与使用细节全解析
查看更多 >>
产品中心
薄膜厚度测量
Filmetrics光学膜厚仪
高精度椭偏仪
XRF镀层测厚仪
表面形貌与粗糙度测量
白光干涉轮廓仪
白光共聚焦显微镜
触针式台阶仪
原子力显微镜(AFM)
材料力学/电学分析
纳米压痕仪
电阻率测量仪
实验室环境改善
主动式减振系统
被动式减振系统
主动式消磁系统
HORIBA科学仪器
纳米粒度仪
拉曼光谱仪
接触角测试仪
KRUSS DSA25系列
KRUSS DSA30系列
KRUSS DSA100系列
KRUSS MSA系列
配件中心
样品台
发光光源
标准片
参考片
滤光片
光源(灯泡)
光纤
探针
接触探头
应用领域
All
半导体制造与封测
消费电子与元器件
新型显示与光学
派瑞林与医疗器械
汽车与交通运输
科研与大学实验室
新兴应用
项目案例
All
测样案例
服务案例
安装案例
解决方案
新闻资讯
公司动态
技术新闻
业内新闻
下载中心
All
产品手册
薄膜厚度测量
表面形貌与粗糙度测量
实验室环境改善
材料力学与电学分析
光学缺陷检测系统
接触角测量仪
HORIBA科学仪器
其他测量与耗材
产品使用说明
薄膜厚度测量
表面形貌与粗糙度测量
实验室环境改善
材料力学与电学分析
光学缺陷检测系统
接触角测量仪
HORIBA科学仪器
其他使用说明
应用测量方案
应用白皮书
应用文档
行业分析报告
实用工具
All
薄膜计算器
膜厚Mapping
关于我们
All
加入我们
联系我们
产品中心
产品中心
PRODUCTS
PRODUCTS
全部
薄膜厚度测量
全部
Filmetrics光学膜厚仪
高精度椭偏仪
XRF镀层测厚仪
表面形貌与粗糙度测量
全部
白光干涉轮廓仪
白光共聚焦显微镜
触针式台阶仪
原子力显微镜(AFM)
材料力学/电学分析
全部
纳米压痕仪
电阻率测量仪
实验室环境改善
全部
主动式减振系统
被动式减振系统
主动式消磁系统
HORIBA科学仪器
全部
纳米粒度仪
拉曼光谱仪
接触角测试仪
全部
KRUSS DSA25系列
KRUSS DSA30系列
KRUSS DSA100系列
KRUSS MSA系列
配件中心
全部
样品台
发光光源
标准片
参考片
滤光片
光源(灯泡)
光纤
探针
接触探头
LS-DT2 DT2紫外-可见光源模块
上一页
1
下一页
转至第
立即预约 免费测样
联系我们,获取您的专属样品测量方案!
留言
精密薄膜测量专家
PRECISION THIN FILM MEASUREMENT EXPERT
TEL:
400-186-8882
Email:
info@unicorn-tech.com
产品中心
薄膜厚度测量
表面形貌与粗糙度测量
材料力学/电学分析
实验室环境改善
HORIBA科学仪器
接触角测试仪
配件中心
项目案例
测样案例
服务案例
安装案例
解决方案
新闻资讯
公司动态
技术新闻
业内新闻
实用工具
薄膜计算器
膜厚Mapping
优尼康科技有限公司
翌颖科技(上海)有限公司
优尼康公众号
售后服务支持
在线咨询
电话咨询
在线咨询
预约测样
资料下载
在线答疑
400-186-8882
平台: