TS-SiO2-4-7200标准片适用于哪些系统？

适用于Filmetrics F10、F20、F32、F40、F50等反射式薄膜厚度测量系统，用于厚度校准与准确性验证。

标准片的标称厚度是多少？

标称厚度为7200Å（720纳米），材质为SiO₂，提供可溯源的厚度参考。

TS-SiO2-4-7200是原装正品吗？

是Filmetrics认证原装标准片，优尼康科技官方供应，确保厚度值的准确性和可溯源性。

TS-SiO2-4-7200 厚度标准片

TS-SiO2-4-7200 SiO2厚度标准片，标称厚度7200Å，用于Filmetrics F系列薄膜测量系统的校准与验证。优尼康科技原装正品，现货供应。

产品名称： TS-SiO2-4-7200 厚度标准片

品牌： Filmetrics

产品型号： TS-SiO2-4-7200

产地：美国

校准标准

SKU: TS-SiO2-4-7200现货供应

TS-SiO2-4-7200 厚度标准片SiO2标准片 | 7200Å标称厚度 | 系统校准验证

Name: TS-SiO2-4-7200 SiO2厚度标准片
Brand: Filmetrics
SKU: TS-SiO2-4-7200
Availability: InStock

适用于Filmetrics F10/F20/F32/F40/F50等反射式膜厚仪的标准片，材质SiO₂，标称厚度7200Å，用于定期校准与准确性验证。

材质 SiO₂厚度 7200Å适用 F10-F50

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产品亮点

可溯源厚度标准 — 标称7200Å SiO₂，用于验证系统测量准确性
高稳定性材质 — 热氧化SiO₂薄膜，厚度均匀，长期稳定
广泛兼容 — 适用于F10、F20、F32、F40、F50等反射测量系统
即取即用 — 标准片尺寸适配样品台，无需额外制备
原装正品 — Filmetrics认证，确保厚度值准确可靠
定期校准必备 — 帮助实验室满足质量体系对设备校准的要求

适用场景

膜厚仪日常校准 — 验证仪器测量精度，确保数据可靠
设备验收与期间核查 — 作为标准参考片进行性能确认
多设备比对 — 在不同F系列系统间进行厚度测量一致性比对
培训与演示 — 用于新用户培训，展示系统测量能力
质量体系要求 — 满足ISO等体系对测量设备校准的要求

技术规格参数

产品型号	TS-SiO2-4-7200
材料	SiO₂（热氧化二氧化硅）
标称厚度	7200 Å（720 nm）
基底	硅（Si）
用途	系统校准与厚度验证
兼容系统	F10 / F20 / F32 / F40 / F50 (反射式膜厚仪)

⚠️请注意： 标准片表面请保持清洁，避免划伤。测量时确保标准片放置平稳，以获得准确的参考光谱。建议定期送检或与更高精度标准比对，确保可溯源性。如有疑问，联系技术支持。

适用产品一览

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以上系统均可使用TS-SiO2-4-7200进行厚度校准与性能验证。

常见问题

TS-SiO2-4-7200适用于哪些系统？ ▼

适用于F10、F20、F32、F40、F50等反射式膜厚仪，用于厚度校准与准确性验证。

标准片的厚度是多少？ ▼

标称厚度为7200Å（720纳米），材质为热氧化SiO₂，基底为硅。

如何使用标准片进行校准？ ▼

直接测量标准片，将结果与7200Å比对。若偏差较大，可执行系统参考校准或联系技术支持。

标准片需要定期更换吗？ ▼

正常保管下可长期使用。若出现污染、划痕或测量值明显漂移，建议更换新片。

是原装正品吗？ ▼

Filmetrics认证原装标准片，优尼康科技官方供应，厚度值准确可溯源。

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TS-SiO2-4-7200 厚度标准片

TS-SiO2-4-7200 厚度标准片SiO2标准片 | 7200Å标称厚度 | 系统校准验证

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