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TS-SS3-SiO2-8000 厚度标准片

TS-SS3-SiO2-8000 厚度标准片

TS-SS3-SiO2-8000 为SS3反射探头专用SiO2厚度标准片，标称厚度8000Å，适用于Filmetrics F20薄膜测量系统。优尼康科技原装正品，现货供应。

  • 产品名称： TS-SS3-SiO2-8000 厚度标准片
  • 品牌： Filmetrics
  • 产品型号： TS-SS3-SiO2-8000
  • 产地： 美国
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TS-SS3-SiO2-8000 SiO2厚度标准片 | SS3专用 | 适用于F20系统 | 优尼康科技
SS3专用TS-SS3-SiO2-8000.jpg
SKU: TS-SS3-SiO2-8000现货供应

TS-SS3-SiO2-8000 厚度标准片SS3探头专用 | SiO2标准片 | 8000Å | 仅适用于F20

专为F20系统搭配SS3反射探头设计的SiO2厚度标准片，标称厚度8000Å，用于SS3探头的日常校准与厚度验证，原装正品。

材质 SiO₂厚度 8000Å适用 F20 + SS3
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产品亮点

  • SS3探头专用 — 专为F20系统搭配SS3反射探头校准设计

  • 精准厚度参考 — 标称8000Å SiO₂，提供可靠厚度溯源

  • 操作简便 — 直接放置在SS3探头下即可测量，无需特殊准备

  • 长期稳定 — 热氧化SiO₂薄膜，厚度均匀，耐用持久

  • 原装正品 — Filmetrics认证，确保与F20/SS3完美匹配

  • 维护必备 — 定期使用可确保SS3探头测量准确性

适用场景

  • SS3探头校准 — 校准F20搭配SS3反射探头的测量系统

  • 厚度准确性验证 — 定期验证F20/SS3在8000Å的测量精度

  • 设备验收与调试 — 新安装或维护后确认系统性能

  • 质量体系合规 — 满足ISO等对测量设备校准溯源的要求

  • 培训与演示 — 用于操作人员培训，展示SS3探头性能

技术规格参数

产品型号TS-SS3-SiO2-8000
材料SiO₂（热氧化二氧化硅）
标称厚度8000 Å（800 nm）
基底硅（Si）
适用探头SS3反射探头
兼容系统F20 (搭配SS3探头)
⚠️请注意： 此标准片专为F20系统搭配SS3反射探头设计，不适用于标准反射探头或其他F系列机型。如需其他型号标准片，请参考TS-SiO2系列。保持标准片表面清洁，避免划伤。如有疑问，联系技术支持。

适用产品一览

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F20 膜厚仪
F20通用型膜厚仪（需搭配SS3探头）查看详情

F20搭配SS3反射探头时，可使用TS-SS3-SiO2-8000进行校准验证。

常见问题

TS-SS3-SiO2-8000适用于哪些系统？ ▼
专用于搭载SS3反射探头的F20膜厚仪。不适用于其他F系列机型或标准反射探头。
什么是SS3反射探头？ ▼
SS3是Filmetrics的小型反射探头，常用于紧凑空间或特殊样品测量。此标准片专为SS3校准设计。
标准片的厚度是多少？ ▼
标称厚度为8000Å（800纳米），材质为热氧化SiO₂，可溯源。
如何正确使用？ ▼
将标准片置于SS3探头下，测量厚度并与8000Å比对。如有偏差，可执行系统校准或联系技术支持。
是原装正品吗？ ▼
Filmetrics认证原装标准片，优尼康科技官方供应，确保SS3探头校准的准确性。

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标签: 配件中心 膜厚仪配件

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