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白光干涉技术精准表征电介质薄膜厚度与光学常数
优尼康科技提供白光干涉测量解决方案，使用Filmetrics F20-UVX膜厚仪精准测量二氧化硅/氮化硅等电介质薄膜的厚度、折射率与消光系数，解决非化学计量比薄膜测量难题，助力半导体与光学行业研发与质控。
2025-11-07 admin查看详情 -
种子包衣测量方案- filmetrics F3-s1310 膜厚测量仪
所谓种子包衣是采取机械或手工方法，按一定比例将含有杀虫剂、杀菌剂、复合肥料、微量元素、植物生长调节剂、缓释剂和成膜剂等多种成分的种衣剂均匀包覆在种子表面，形成一层光滑、牢固的药膜。
2023-06-08 admin查看详情 -
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白光干涉测量电介质薄膜
成千上万的电解质薄膜被用于光学，半导体，以及其他行业, 而Filmetrics的仪器可以测量薄膜。常见的电介质有:二氧化硅 – 简单的材料之一, 主要是因为它在大部分光谱上的无吸收性 (k=0)， 而且非常接近化学计量 (就是说，硅：氧非常接近 1:2)。 受热生长的二氧化硅对光谱反应规范，通常被用来做厚度和折射率标准。 Filmetrics能测量3nm到1mm的二氧化硅厚度。
2023-06-08 admin查看详情
