为薄膜研发与检测工程师打造的在线工具集合，无需安装、即开即用，所有计算均在浏览器本地完成，数据不上传服务器
通过输入薄膜参数计算薄膜干涉的反射率，用于膜系设计验证、工艺参数优化与光学性能预测
支持 200nm - 2000nm 波长范围反射率计算
最多可输入 20 层薄膜 结构
基于菲涅耳方程复矩阵形式，与实测高度一致
采用与薄膜测量系统相同的核心计算引擎
通过导入膜厚测量数据生成厚度分布可视化图表，适用于镀膜均匀性评估、工艺稳定性监控与质量异常排查
支持 2D 热力图与 3D 表面图两种可视化模式
提供任意方向剖面分析与数据导出功能
自动统计均匀性、极差、标准差等关键指标
基于双线性插值与统计均匀性算法
TEL：
400-186-8882
Email：
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