为期数日的第26届中国国际光电博览会（CIOE）在深圳圆满落下帷幕。本届展会盛况空前，汇聚了全球光电领域的顶尖技术与创新成果。我司与KLA联合协办的展台，在真空镀膜馆的重装亮相。凭借一系列高端、精密的表面测量与检测解决方案，成功吸引了大量专业观众驻足交流，现场气氛热烈，成果丰硕，为此次展会之旅画上了圆满的句号。
优尼康与KLA Instruments联合展台在本次光博会亮相，携Filmetrics多台膜厚仪、FilmSense椭偏仪、Zeta-20白光共聚焦、iMicro纳米压痕仪、D300台阶仪、Profilm3D 光学轮廓仪，凭借优异的产品性能和客户口碑，多位观众慕名而来，现场交流火热，共同探讨产品应用和技术细节！
聚焦于精密制造的核心检测需求，重点展出了两款明星产品：白光干涉三维轮廓仪与白光共聚焦三维轮廓仪。这两款设备以其非接触、高精度、高效率的独特优势，成为了现场当之无愧的焦点。
优尼康在现场
通过此次CIOE盛会，更深刻地感受到了市场对于高精度、智能化检测设备日益增长的需求。我们与众多新老朋友相聚，交流行业前沿趋势，探讨技术应用难点，每一场深入的对话都让我们对未来充满了信心。
展会虽已落幕，但创新与服务永不止步。我们将满载客户的信任与期待，持续深耕精密测量领域，不断优化产品性能，拓展应用边界，以更先进的技术和更完善的解决方案，！
如果您有上述测量的需求，欢迎随时来电，与我们进行深入沟通！
感谢阅读
更多专题
1 | |
2 | |
3 |
优尼康公众号
售后服务支持
长按识别二维码关注我们
了解更多精密薄膜量测相关知识
优尼康公众号
售后服务支持
