Semicon China 2017半导体展已完满落幕

优尼康科技有限公司参加SEMICON CHINA 2017半导体展已于2017年3月16日在上海博览中心完满落幕。此次展会上我司现场展示了多台美国Filmterics 新型光学薄膜测量设备，包括新型号3D扫描轮廓仪系统Profilm3D，测量厚膜系列F1310，测量薄膜F3-UV，半自动圆晶测量系统F50， F40等多款膜厚测试设备。此次展会取得相当成功，展会期间，除了吸引了不少行业人士前来现场相互交流指导， 也吸引合作伙伴的目光和青睐，我们现场也给客户操作演示讲解，并获得现场交流人士一致好评。

在未来的发展路上，我司会全力以赴，将我们经营理念“真诚，专注，信赖”服务于大家。

期待2018年半导体展与各界人士再度相会！

火爆的人气

展示的机台有profilm 3D, F50, F40, F3, F20等

优尼康大合影