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光学膜厚仪的优势特点及使用时应该注意的事项
膜厚仪作为一种测量膜层厚度的仪器,在很多的行业领域都得到了广泛的应用,尤其是光学膜厚仪,因为测量精度高、非接触、无须破坏样品等优点,受到众多企业用户和高校老师的喜爱,今天主要对光学膜厚仪做个简单了解。
2023-06-12 李扬查看详情 -
什么是X射线荧光镀层测厚仪?
X射线荧光(XRF)镀层测厚仪是针对镀层厚度测量设计的一款仪器,优尼康科技有限公司提供的一款Bowman BA-100 Optics为例,来简单了解下,什么是台式X射线荧光镀层测厚仪。
2023-06-12 admin查看详情 -
椭偏仪的原理以及应用
这款型号为Film Sense FS-1的椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动式部件椭偏探测器,可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要1秒测量,就可以获得准确的数据。还可以测量大多数样品的光学常数和其他薄膜特性。
Film Sense FS-1多波长椭偏仪这款功能强大的多波长椭偏仪,售价只是单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等水平。FS-1可应用于研究实验室,超净间,原位工艺腔体以及工业质量控制等诸多领域。2023-06-12 admin查看详情 -
膜厚仪使用中需要注意的一些细节
在企业、厂商生产过程中,使用薄膜厚度测试仪(膜厚仪)都应该制定完善的操作规范制度,
这样才好帮助工作人员更好的进行使用,并保证测量结果的准确性。
现阶段,随着在我们优尼康购买膜厚仪的厂家越来越多,应用的场景和环境越来越广泛,在使用过程中需要注意的一些基本事项,还有操作细节,需要大家关注。2023-06-12 李扬查看详情 -
3D光学表面轮廓仪的工作原理和应用
优尼康科技有限公司提供的Profilm3D光学轮廓仪,适用于各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。
2023-06-12 admin查看详情 -
5G时代重要的半导体材料:碳化硅(SiC)的膜厚测量
随着5G大潮的到来,新一代的移动通信产品大多具备高功率,耐高温等特性,传统原料中的硅(Si)无法克服在高温、高压、高频中的损耗,逐渐被淘汰,跟不上时代的发展,无法满足现代工艺的要求,这就使得碳化硅(SiC)新工艺在半导体行业崭露头角。
2023-06-09 admin查看详情