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P-17 台阶仪
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P-17 台阶仪

P-17是台式探针轮廓仪，是多年的表面量测经验的结晶。支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。 该系统结合了UltraLite传感器、恒力控制和超平扫描平台，因而具备出色的测量稳定性。 通过点击式平台控制、顶视和侧视光学系统以及带光学变焦的高分辨率相机等功能，程序设置简便快速。 P-17具备用于量化表面形貌的各种滤镜、调平和分析算法，可以支持2D或3D测量。 并通过图案识别、排序和特征检测实现全自动测量。

  • 产品名称： 探针式轮廓仪
  • 品牌： KLA
  • 产品型号： P-17
  • 产地： 美国


P-17 Stylus Profiler


详情图.png

  P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。


产品描述

P-17是台式探针轮廓仪，是多年的表面量测经验的结晶。支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。


该系统结合了UltraLite传感器、恒力控制和超平扫描平台，因而具备出色的测量稳定性。 通过点击式平台控制、顶视和侧视光学系统以及带光学变焦的分辨率相机等功能，程序设置简便快速。 P-17具备用于量化表面形貌的各种滤镜、调平和分析算法，可以支持2D或3D测量。 并通过图案识别、排序和特征检测实现全自动测量。


主要功能

  •       台阶高度：几纳米至1000μm

  •       微力恒力控制：0.03至50mg

  •       样品全直径扫描，无需图像拼接

  •       视频：500万像素分辨率彩色摄像机

  •       圆弧校正：消除由于探针的弧形运动引起的误差

  •       软件：简单易用的软件界面

  •       生产能力：通过测序、图案识别和SECS/GEM实现全自动化


主要应用

  •       台阶高度：2D和3D台阶高度

  •       纹理：2D和3D粗糙度和波纹度

  •       形状：2D和3D翘曲和形状

  •       应力：2D和3D薄膜应力

  •       缺陷复检：2D和3D缺陷表面形貌

工业应用

  •       大学、研究实验室和研究所

  •       半导体和化合物半导体

  •       LED：发光二极管

  •       太阳能

  •       MEMS：微机电系统

  •       数据存储

  •       汽车

  •       医疗设备

  •       还有更多，请与我们联系以满足您的要求




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