BOWMAN K系列 高性能XRF镀层测厚仪

美国博曼(Bowman)K系列 XRF 高精度涂层测量系统K系列是客户测量各种样品的理想之选,在高度不超过9英寸(228 mm)的工件上具有优于同类产品的12英寸(304 mm)×12英寸(304mm)可测量区域。自动多准直器允许选择光斑尺寸,以适应各种特征尺寸;可变焦摄像头允许在 0.25 英寸到 3.5英寸的焦距范围内进行测量。伺服电机驱动的可编程平台可实现快速、精确的可编程样品定位。悬臂门设

  • 产品名称: BOWMAN K系列 XRF镀层测厚仪
  • 品牌: BOWMAN博曼
  • 产品型号: K系列
  • 产地: 美国

美国博曼(Bowman)K系列 XRF 高精度涂层测量系统


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K系列是客户测量各种样品的理想之选,在高度不超过9英寸(228 mm)的工件上具有优于同类产品的12英寸(304 mm)×12英寸(304mm)可测量区域。自动多准直器允许选择光斑尺寸,以适应各种特征尺寸;可变焦摄像头允许在 0.25 英寸到 3.5英寸的焦距范围内进行测量。

伺服电机驱动的可编程平台可实现快速、精确的可编程样品定位。悬臂门设计方便操作人员进行样品放置。表格视图功能可对整个可测量区域进行成像,操作员只需单击鼠标即可导航到任何位置。内置操纵杆可让 操作员从系统的控制面板上移动XY平台,而无需软件干预。与所有其他BowmanXRF系统 一样,K系列符合ASTMB568. ISO3497和IPC-4552标准。


配置

  • K 系列的标准配置包括一个4位(4、8、12和24mil)多重准直器;

  • 可选尺寸为2x2 mil 至60mil。可变焦距便于在凹陷区域进行测量。

  • 同服电机驱动的可编程平台可通过可选的 xyz程序进行零件测量。

  • 程序可使用模式匹配和自动对焦来确保精确测量。

  • 与所有 Bowman XRF 系统一样,K系列配备了标准的硅漂移探测器(SDD)和长寿命微聚焦×射线管。

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