美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪
Bowman BA-100 Optics 机型采用业界领先的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。
Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。
优质的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。
稳定的X射线管
● 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点
● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央
● 长寿命的射线管灯丝
● 独有的预热和ISO温度适应程序
多毛细管聚焦光学结构
● 显著提高X射线信号强度
● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
● 小于100um直径的测量斑点
● 经过验证，接近完美的测量精度
应用领域：
常见的镀层应用:
PCB行业
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引线框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半导体行业
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
线材
Sn/Cu
珠宝、贵金属
10,14,18Kt
元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等
美国博曼高性能XRF镀层测厚仪
三十余年深耕镀层测厚事业经历不断创新、获得广泛好评，具备广泛的镀层厚度测量范围（可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析）
成为越来越多行业的满意选择
可为您提供高精度，快速简便的测量和分析
