Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统

Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统产品介绍:
Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式。配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。
Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统优势:
XRF系统
高分辨率的固态探测器具有良好的元素分辨能力,无需二次滤波器。峰位长时间保持稳定,无需频繁地进行再校准。与其他同类型设备相比,X射线管和探测器的闭合耦合几何布局光子数有明显提升。
直观的用户界面
Bowman配套软件将为仪器的性能提供支持。Bowman XR F高精度镀层测量系统的分析数据拥有强大的软件作为支持,该软件将拥有直观的用户界面,操作简单友好。测量数据可通过批次号进行检索,报告可一键生成。用户可以无限制地创建新的应用程序和报告格式,所有结果自动保存到电脑数据库,所有用户级别都可以设置密码保护。
广泛的镀层厚度测量范围
BowmanXRF高精度镀层测量系统可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析。
Bowman XRF 高精度镀层测量系统服务支持:
Bowman为用户提供的XRF技术支持和服务。目前,除美国芝加哥总部外,Bowman已在全球四大洲二十余个国家建立了办事处或机构。博曼始终致力于通过提供现场技术支持服务,从而成就用户。Bowman在中国上海设有演示应用中心,培训中心及备品配件库,在深圳,杭州,西安设有办事处。有能力为客户提供贴心的镀层厚度检测方案和快速相应的售后服务。
Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统配置:
Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可以升级为包括多个准直器,可变焦距相机和SDD探测器。
Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统测量原理:
Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统利用X射线荧光原理测量镀层和成分。当高能X射线照射金属薄膜表面时,入射光子击出薄膜或基底材料原子的内层电子形成空穴。外层电子跃迁填补空穴时释放特征X射线荧光,其能量与元素的原子序数一一对应,通过荧光的能量我们可以知道样品中存在哪些元素,通过XRF的强度我们可以分析获得样品的厚度和每个元素的成分。
Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统行业应用:
半导体  | 线路板  | 电镀  | 汽车  | 
航空航天  | 首饰/珠宝  | 连接器  | 紧固件  | 
电子元器件  | 引线框架  | 管道  | 切削工具  | 
Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统产品参数:
元素测量范围:  | 13号铝元素到92号铀元素  | 
X射线管:  | 50W(50kV和1mA)微聚焦钨靶射线管  | 
探测器:  | 准直:硅固态探测器,分辨率为190eV或更高 光学元件:大窗口硅固态探测器,分辨率为190eV或更高  | 
分析能力:  | 5层(4层+基础),每层10个元素。同时分析多达25种元素的成分  | 
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