F32薄膜厚度测量仪

F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘,加上附加的分光计,可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本最多两个位置)。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。Filmetrics还提供可选的透镜组件,以便于集成到现有的生产装置上。

  • 产品名称: 薄膜厚度测量仪
  • 品牌: Filmetrics
  • 产品型号: F32
  • 产地: 美国


F32薄膜厚度测量仪



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在线测量的解决方案

使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。


F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘,加上附加的分光计,可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本最多两个位置)。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。Filmetrics还提供可选的透镜组件,以便于集成到现有的生产装置上。


包含的软件和USB连接使得在任何windows平台上安装F32很简单。在测量软件的帮助下,它预装了100多种材料,使得单层和多层薄膜的测量很容易实现。通过测量样品的光学常数或从现有的来源输入数据,可以快速添加新材料。



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选择Filmetrics的优势

•            桌面式薄膜厚度测量的全球领导者

            24小时电话,E-mail和在线支持

            所有系统皆使用直观的标准分析软件

附加特性

            嵌入式在线诊断方式

            免费离线分析软件

            精细的历史数据功能,帮助用户有效地存储,重现与绘制测试结果





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