Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪

F10-HC 薄膜厚度测量系统独特的接触式探头大大降低反射干扰的影响，能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度，加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪软件的模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。

产品名称：薄膜厚度测量仪

品牌： Filmetrics

产品型号： F10-HC

产地：美国

Filmetrics F10-HC薄膜厚度测量仪

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Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产品介绍：

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪是以Filmetrics F20 白光干涉仪膜厚仪为基础所发展而来。F10-HC 薄膜厚度测量系统独特的接触式探头大大降低反射干扰的影响，能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度，加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪软件的模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产品特点优势：

具备价格优势的薄膜测量系统；
具备简易的操作系统，新样板模式功能的F10-HC薄膜厚度测量仪自动通知测量结果；
自动化基准矫正以及设置自己的积分时间；
独特的接触式探头大大降低反射干扰的影响；

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产品测量原理：

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

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Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产品应用与膜层范例：

音膜厚度检测，通过反射率信息计算音膜的厚度测量，采用接触式探头，从而降低背面反射影响，更好的对膜的凹凸不规则表面进行测量。

Filmetrics F10-HC薄膜厚度测量仪产品参数：

波长范围：	380nm-1050nm	光源：	钨卤素灯
厚度测量范围：	0.05μm-70μm	测量精度：	0.01μm
光斑大小：	200μm	稳定性：	0.01μm
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