Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪

F10-HC 薄膜厚度测量系统独特的接触式探头大大降低反射干扰的影响,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪软件的模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。

  • 产品名称: 薄膜厚度测量仪
  • 品牌: Filmetrics
  • 产品型号: F10-HC
  • 产地: 美国


Filmetrics F10-HC薄膜厚度测量仪



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Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产品介绍:

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪是以Filmetrics F20 白光干涉仪膜厚仪为基础所发展而来。F10-HC 薄膜厚度测量系统独特的接触式探头大大降低反射干扰的影响,能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度,加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪软件的模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)



Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产品特点优势:

  • 具备价格优势的薄膜测量系统;

  • 具备简易的操作系统,新样板模式功能的F10-HC薄膜厚度测量仪自动通知测量结果;

  • 自动化基准矫正以及设置自己的积分时间;

  • 独特的接触式探头大大降低反射干扰的影响;



Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产品测量原理:

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射,由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉,从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率,可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度(越多的震荡代表越大的厚度),同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

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Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪产品应用与膜层范例:

音膜厚度检测,通过反射率信息计算音膜的厚度测量,采用接触式探头,从而降低背面反射影响,更好的对膜的凹凸不规则表面进行测量。



Filmetrics F10-HC薄膜厚度测量仪产品参数:

波长范围:

380nm-1050nm

光源:

钨卤素灯

厚度测量范围:

0.05μm-70μm

测量精度:

0.01μm

光斑大小:

200μm

稳定性:

0.01μm

更多参数可联系我们获取



Filmetrics F10-HC薄膜厚度测量仪测量图:

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标签: KLA Filmetrics
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