Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪以真空镀膜为设计目标，F10-RT薄膜厚度测量仪只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需简单操作。用户就能进行 FWHM 并进行颜色分析。 可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪以真空镀膜为设计目标，F10-RT 薄膜厚度测量仪只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需简单操作。用户就能进行 FWHM 并进行颜色分析。 可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。
同步测量薄膜的反射率/穿透率，1s内获得结果；
简单快速、易于使用的分析优点；
设备具有完整标准配置，确保设备高度可靠；
测量结果能被快速地导出和打印。
当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。
显示技术 | 消费电子 | 派瑞林 | |
光刻胶 | OLED | 防水涂层 | 电子产品/电路板 |
介电层 | ITO和TCOs | 射频识别 | 磁性材料 |
砷化镓 | 空气盒厚 | 太阳能电池 | 医疗器械 |
微机电系统 | PVD和CVD | 铝制外壳阳极膜 | 硅橡胶 |
波长范围： | 190nm-1700nm | 光源： | 钨卤素灯、 氘灯 |
厚度测量范围： | 1nm-150μm | 测量精度： | 0.01nm |
光斑大小： | 6mm | 稳定性： | 0.05nm |
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